原標(biāo)題：北京海爾與安捷倫科技聯(lián)手將可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)應(yīng)用在MPEG-II譯碼芯片的工程與量產(chǎn)測(cè)試

北京海爾與安捷倫科技在MPEG-II譯碼芯片工程與量產(chǎn)測(cè)試中聯(lián)手應(yīng)用可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）技術(shù)，標(biāo)志著雙方在芯片測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)整合與產(chǎn)業(yè)化落地邁出關(guān)鍵一步。這一合作通過DFT技術(shù)優(yōu)化芯片的可測(cè)試性，結(jié)合安捷倫在測(cè)試設(shè)備與解決方案上的優(yōu)勢(shì)，以及海爾在芯片設(shè)計(jì)與量產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)上的積累，為提升芯片測(cè)試效率、降低成本并加速產(chǎn)品上市提供了有力支撐。以下從技術(shù)合作邏輯、DFT應(yīng)用價(jià)值及行業(yè)影響三方面展開分析：

1. 技術(shù)合作邏輯：DFT為芯片測(cè)試“降本增效”

芯片測(cè)試是芯片制造中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其核心目標(biāo)是高效、精準(zhǔn)地檢測(cè)出制造缺陷，避免不良品流入市場(chǎng)。然而，隨著芯片工藝的復(fù)雜化（如納米級(jí)制程、多核架構(gòu)等），傳統(tǒng)測(cè)試方法面臨兩大挑戰(zhàn)：

• 測(cè)試成本激增：測(cè)試時(shí)間與數(shù)據(jù)量呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)，ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）資源消耗巨大；

• 缺陷覆蓋率不足：復(fù)雜芯片內(nèi)部邏輯難以通過外部引腳完全觀測(cè)，傳統(tǒng)測(cè)試向量難以覆蓋所有潛在故障。

DFT技術(shù)的引入通過在芯片設(shè)計(jì)階段植入測(cè)試邏輯（如掃描鏈、BIST等），將芯片內(nèi)部狀態(tài)轉(zhuǎn)化為可觀測(cè)、可控制的信號(hào)，從而提升測(cè)試效率與缺陷覆蓋率。

• 掃描鏈（Scan Chain）：將時(shí)序邏輯轉(zhuǎn)換為可掃描的移位寄存器鏈，通過外部引腳輸入測(cè)試向量，實(shí)現(xiàn)內(nèi)部邏輯的全面覆蓋；

• 內(nèi)建自測(cè)試（BIST）：在芯片內(nèi)部集成測(cè)試電路，降低對(duì)ATE設(shè)備的依賴，尤其適用于存儲(chǔ)器等重復(fù)性模塊的測(cè)試；

• 邊界掃描（Boundary Scan）：通過JTAG接口實(shí)現(xiàn)芯片引腳級(jí)測(cè)試，提升板級(jí)測(cè)試效率。

北京海爾與安捷倫的合作，正是通過DFT技術(shù)解決上述痛點(diǎn)，在芯片設(shè)計(jì)階段預(yù)埋測(cè)試接口，在量產(chǎn)階段利用安捷倫的ATE設(shè)備與測(cè)試算法，實(shí)現(xiàn)高效、低成本的測(cè)試流程。

2. MPEG-II譯碼芯片的DFT應(yīng)用場(chǎng)景

MPEG-II譯碼芯片作為數(shù)字視頻處理的核心組件，其復(fù)雜度體現(xiàn)在高帶寬數(shù)據(jù)流處理、多核并行計(jì)算、實(shí)時(shí)性要求等方面。此類芯片的測(cè)試難點(diǎn)包括：

• 視頻解碼邏輯的復(fù)雜性：需驗(yàn)證H.262標(biāo)準(zhǔn)下的熵解碼、運(yùn)動(dòng)補(bǔ)償、IDCT等模塊的正確性；

• 實(shí)時(shí)性要求：需在有限時(shí)鐘周期內(nèi)完成數(shù)據(jù)處理，測(cè)試需覆蓋時(shí)序敏感路徑；

• 多核協(xié)同測(cè)試：需驗(yàn)證多核間的數(shù)據(jù)同步與通信機(jī)制。

DFT技術(shù)的具體應(yīng)用：

• 針對(duì)復(fù)雜邏輯的掃描測(cè)試：通過插入掃描鏈，將解碼模塊中的時(shí)序邏輯轉(zhuǎn)化為可掃描結(jié)構(gòu)，利用ATE設(shè)備輸入測(cè)試向量，驗(yàn)證解碼流程的正確性；

• 針對(duì)存儲(chǔ)器的BIST測(cè)試：MPEG-II芯片中的幀緩沖、參考幀存儲(chǔ)器等模塊，通過內(nèi)建自測(cè)試電路檢測(cè)存儲(chǔ)單元的短路、斷路等缺陷；

• 針對(duì)時(shí)序路徑的ATPG測(cè)試：利用自動(dòng)測(cè)試向量生成工具，針對(duì)關(guān)鍵時(shí)序路徑生成測(cè)試向量，覆蓋延遲故障（如Transition Fault）；

• 針對(duì)多核通信的邊界掃描：通過JTAG接口測(cè)試多核間的數(shù)據(jù)總線、控制信號(hào)，確保協(xié)同工作的可靠性。

3. 行業(yè)影響：DFT技術(shù)推動(dòng)芯片測(cè)試產(chǎn)業(yè)化升級(jí)

北京海爾與安捷倫的合作，不僅提升了MPEG-II譯碼芯片的測(cè)試效率，更為芯片行業(yè)提供了DFT技術(shù)產(chǎn)業(yè)化的標(biāo)桿案例：

• 測(cè)試成本優(yōu)化：通過DFT技術(shù)減少ATE設(shè)備的使用時(shí)間，降低測(cè)試成本；

• 良率提升：高缺陷覆蓋率確保不良品在量產(chǎn)早期被剔除，提升整體良率；

• 上市周期縮短：DFT技術(shù)加速了測(cè)試向量生成與調(diào)試過程，縮短了芯片從工程驗(yàn)證到量產(chǎn)的時(shí)間；

• 技術(shù)生態(tài)構(gòu)建：雙方合作推動(dòng)了DFT工具鏈（如掃描鏈插入、ATPG算法）與ATE設(shè)備的深度整合，為行業(yè)提供了可復(fù)用的解決方案。

此外，這一合作也反映了芯片設(shè)計(jì)與測(cè)試協(xié)同創(chuàng)新的趨勢(shì)：

• 設(shè)計(jì)端與測(cè)試端的聯(lián)動(dòng)：DFT技術(shù)要求芯片設(shè)計(jì)師與測(cè)試工程師在早期階段緊密協(xié)作，優(yōu)化測(cè)試邏輯的插入位置與資源開銷；

• 測(cè)試算法與硬件的協(xié)同優(yōu)化：安捷倫的ATE設(shè)備與測(cè)試算法需與海爾的DFT架構(gòu)匹配，確保測(cè)試向量的高效生成與執(zhí)行；

• 產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同效應(yīng)：雙方的合作模式可推廣至其他芯片領(lǐng)域（如AI加速卡、通信基帶芯片），推動(dòng)全行業(yè)的測(cè)試效率提升。

總結(jié)

北京海爾與安捷倫科技在MPEG-II譯碼芯片測(cè)試中應(yīng)用DFT技術(shù)，是芯片設(shè)計(jì)與測(cè)試深度融合的典型案例。通過DFT技術(shù)優(yōu)化芯片的可測(cè)試性，結(jié)合安捷倫在ATE設(shè)備與測(cè)試算法上的優(yōu)勢(shì)，雙方實(shí)現(xiàn)了測(cè)試效率提升、成本降低與良率保障的三重目標(biāo)。這一合作不僅為MPEG-II譯碼芯片的產(chǎn)業(yè)化提供了技術(shù)支撐，更為芯片行業(yè)探索DFT技術(shù)的規(guī)模化應(yīng)用提供了寶貴經(jīng)驗(yàn)。未來，隨著芯片復(fù)雜度的持續(xù)提升，DFT技術(shù)將成為芯片測(cè)試領(lǐng)域的核心驅(qū)動(dòng)力，而北京海爾與安捷倫的合作模式，或?qū)⒁I(lǐng)行業(yè)進(jìn)入“設(shè)計(jì)即測(cè)試”的新階段。