原標題：Saki 創(chuàng)新的 3D-AOI Z 軸系統(tǒng)將在 NEPCON ASIA 2021 上隆重亮相

Saki 創(chuàng)新的 3D-AOI Z 軸系統(tǒng)在NEPCON ASIA 2021上隆重亮相，這一事件標志著Saki在自動化光學和X射線檢測設備領域的又一重要進展。以下是對該事件的詳細回顧和介紹：

一、事件背景

• 公司背景：Saki Corporation是自動化光學和X射線檢查設備領域的創(chuàng)新型公司，自1994年成立以來，一直是機器人視覺自動識別技術研發(fā)方面的領導者。其產(chǎn)品線包括3D自動焊膏、光學和X射線檢測和測量系統(tǒng)（SPI、AOI、AXI），這些系統(tǒng)被認為是可真正進行M2M通信的穩(wěn)定平臺，并具有最先進的數(shù)據(jù)采集機制。

• 展會介紹：NEPCON ASIA（亞洲電子生產(chǎn)設備暨微電子工業(yè)展覽會）是一個全球知名的電子生產(chǎn)設備展覽會，吸引了眾多行業(yè)內(nèi)的領先企業(yè)和專業(yè)人士參展。該展會為參展商提供了一個展示最新技術和產(chǎn)品的絕佳平臺。

二、產(chǎn)品亮點

• 3D-AOI Z 軸系統(tǒng)：Saki在此次展會上著重展示了其創(chuàng)新的3D-AOI Z軸系統(tǒng)。該系統(tǒng)是為響應客戶們?nèi)找嬖鲩L的應用需求而開發(fā)的，特別適用于對夾具中的高元器件、壓接元器件和PCBA進行精準的檢測。

• 技術特點：

• 高度測量范圍：在3D模式下，該系統(tǒng)實現(xiàn)了最大40毫米的高度測量范圍，而在2D模式下的最大對焦高度也提高到了40mm。這一特性使得Saki的3Di-AOI系列解決方案能夠先檢測薄型元件，然后重新對焦到大型元件（如大型電解電容器）的型號和極性標志上。

• 高精度檢測：合成的圖像可實現(xiàn)準確的缺陷檢測和光學字符識別（OCR或OCV），從而確保高質(zhì)量。此外，該系統(tǒng)還內(nèi)置了包括邊沿搜索和平面檢測在內(nèi)的高級算法，以確保較高的檢查精度和可重復性。

• 靈活應用：該系統(tǒng)能夠應對下一代裝配挑戰(zhàn)，如檢查壓配合連接器的插針等日益廣泛應用的部件。具有有限Z軸范圍的常規(guī)AOI系統(tǒng)可能無法識別出諸如彎曲的銷釘以及不正確的對齊或共面性之類的缺陷，而Saki的3Di系列Z軸增強功能則能有效解決這些問題。

三、展會效果與影響

• 市場反響：Saki的3D-AOI Z軸系統(tǒng)在NEPCON ASIA 2021上受到了廣泛關注。這一創(chuàng)新產(chǎn)品的亮相不僅展示了Saki在自動化光學檢查技術方面的領先地位，也為行業(yè)內(nèi)的其他企業(yè)樹立了標桿。

• 合作機會：展會期間，Saki與眾多潛在客戶和合作伙伴進行了深入交流，為未來的合作奠定了堅實基礎。同時，Saki還借此機會向全球展示了其致力于解決電子制造中所面臨挑戰(zhàn)的決心和能力。

綜上所述，Saki 創(chuàng)新的 3D-AOI Z 軸系統(tǒng)在NEPCON ASIA 2021上的亮相是一次成功的市場展示和技術交流活動。該系統(tǒng)的推出不僅提升了Saki在自動化光學檢查領域的競爭力，也為整個行業(yè)的發(fā)展注入了新的活力。