原標(biāo)題：Vishay推出vPolyTan聚合物鉭片式電容器，可在惡劣環(huán)境下可靠工作

史密斯英特康推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin彈簧探針技術(shù)，在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域具有顯著的優(yōu)勢(shì)和廣泛的應(yīng)用。以下是對(duì)該技術(shù)的詳細(xì)解析：

一、技術(shù)概述

史密斯英特康作為全球領(lǐng)先的關(guān)鍵半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用創(chuàng)新解決方案的供應(yīng)商，其最新推出的Kelvin彈簧探針技術(shù)，專為低至0.35毫米間距的Kelvin測(cè)試應(yīng)用設(shè)計(jì)。該技術(shù)通過(guò)創(chuàng)新的鑿尖設(shè)計(jì)和專有的均質(zhì)合金優(yōu)化，提供了穩(wěn)健、易于維護(hù)、長(zhǎng)壽命的測(cè)試解決方案。

二、技術(shù)特點(diǎn)

1. 獨(dú)特的鑿尖設(shè)計(jì)：

• Kelvin探針的獨(dú)特鑿尖設(shè)計(jì)能夠在設(shè)備焊接點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)更緊密的中心接觸，最低可達(dá)0.125毫米（另一說(shuō)法為0.25毫米），這大大提升了測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。

• 這種設(shè)計(jì)特別適用于物聯(lián)網(wǎng)、移動(dòng)、互聯(lián)網(wǎng)和汽車(chē)芯片等關(guān)鍵應(yīng)用測(cè)試，為這些領(lǐng)域提供了可靠、穩(wěn)定的接觸電阻。

1. 高精度測(cè)量：

• Kelvin測(cè)試是一種通過(guò)高分辨率測(cè)量來(lái)確定電阻有限變化的方法。Kelvin探針通過(guò)與載流元件或測(cè)試選點(diǎn)的精密電接觸，可消除或大大降低接觸電阻的影響，從而實(shí)現(xiàn)更精確的測(cè)量。

• 這在處理用于大電流測(cè)試的低毫伏參考電壓時(shí)尤為重要，確保了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

2. 長(zhǎng)壽命與耐用性：

• 為了增加探針的使用壽命，Kelvin探針采用了Smiths Interconnect專有的均質(zhì)合金進(jìn)行優(yōu)化。這種合金不僅提高了探針的耐用性，還延長(zhǎng)了其使用壽命，為量產(chǎn)測(cè)試提供了可靠的解決方案。

3. 廣泛適用性：

• Kelvin探針頭設(shè)計(jì)適用于標(biāo)準(zhǔn)陣列測(cè)試插座或晶圓級(jí)別探針頭（如Volta WLCSP），為不同類(lèi)型的測(cè)試需求提供了靈活的選擇。

• 該技術(shù)涵蓋了0.35毫米及以上的芯片器件引腳間距，滿足了多種測(cè)試場(chǎng)景的需求。

4. 易于維護(hù)：

• Kelvin探針的設(shè)計(jì)考慮到了易用性和維護(hù)性，提供了穩(wěn)健、易于維護(hù)的測(cè)試解決方案。這降低了維護(hù)成本和時(shí)間，提高了測(cè)試效率。

三、應(yīng)用領(lǐng)域

Kelvin彈簧探針技術(shù)廣泛應(yīng)用于物聯(lián)網(wǎng)、移動(dòng)、互聯(lián)網(wǎng)和汽車(chē)芯片等關(guān)鍵領(lǐng)域的測(cè)試。其獨(dú)特的鑿尖設(shè)計(jì)和高精度測(cè)量能力，為這些領(lǐng)域的測(cè)試提供了可靠、穩(wěn)定的接觸電阻和精準(zhǔn)的測(cè)量性能。

四、總結(jié)

史密斯英特康推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin彈簧探針技術(shù)，憑借其獨(dú)特的鑿尖設(shè)計(jì)、高精度測(cè)量能力、長(zhǎng)壽命與耐用性以及廣泛適用性等特點(diǎn)，在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域展現(xiàn)出了強(qiáng)大的競(jìng)爭(zhēng)力和廣泛的應(yīng)用前景。該技術(shù)不僅提升了測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性，還為不同領(lǐng)域的測(cè)試需求提供了靈活、高效的解決方案。