ZDIMM內(nèi)存模塊經(jīng)過嚴(yán)格測試，可根除90%以上的內(nèi)存可靠性故障。zdimm (Zefr 內(nèi)存模塊)提供最大的應(yīng)用程序正常運行時間和優(yōu)化內(nèi)存子系統(tǒng)的可靠性。

SMART模塊化技術(shù)ZDIMM內(nèi)存模塊采用Zefr專有篩選工藝(零故障率)。zdimm主要適用于數(shù)據(jù)中心、HPC (high-performance computing)平臺等運行大內(nèi)存、高可靠性應(yīng)用的計算環(huán)境。

特性

• 全面嚴(yán)格的5部分檢測流程;溫度、速度、負(fù)載、系統(tǒng)和時間

• 經(jīng)過驗證的長期可靠性，DPPM為200或更低，而行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為3,000 DPPM至5,000 DPPM(百萬分率缺陷)

• Zefr測試模擬最艱苦的用例，生成具有最高可靠性水平的模塊

• 32GB ~ 128GB, ddr5 ~ 5600; 16GB ~ 128GB, DDR4 3200

應(yīng)用程序

• 內(nèi)存數(shù)據(jù)庫(IMDB)

• 人工智能與機(jī)器學(xué)習(xí)(LLMs，圖像識別)

• 高性能計算(金融科技、科學(xué)建模)

• 監(jiān)測