壓敏電阻的失效機理涉及多個方面，主要包括以下幾種：

一、熱失效機理

熱失效是壓敏電阻失效的一種常見形式。當壓敏電阻長時間處于異常電壓或高電流狀態(tài)下時，其內(nèi)部會產(chǎn)生大量的熱量。由于壓敏電阻的升溫速度通常比熱耗散速度快得多，因此較長時間的異常電壓或高電流將引起元件內(nèi)部熱量積累，導致溫度不斷升高。當元件溫度超過其穩(wěn)定極限溫度時，其電性能會迅速下降，直至完全喪失原有性能。熱失效通常與壓敏電阻的材料特性、散熱條件以及工作環(huán)境溫度有關。

二、老化失效機理

老化失效是指壓敏電阻在使用過程中，由于長時間的電場作用、溫度變化、材料老化等因素，導致其性能逐漸下降的過程。老化失效通常表現(xiàn)為漏電流增大、壓敏電壓降低等。當老化程度嚴重時，壓敏電阻可能無法再起到有效的保護作用，甚至可能引發(fā)電路故障。老化失效的機理與壓敏電阻的材料成分、制造工藝以及工作環(huán)境等因素密切相關。

三、穿孔失效機理

穿孔失效是壓敏電阻在受到高異常電壓作用時，電阻體內(nèi)部發(fā)生擊穿而形成孔洞的現(xiàn)象。穿孔失效通常與元件中存在的超高溫熱點有關，這些熱點可能是由于材料不均勻性、顯微孔隙等因素導致的。當高異常電壓作用于壓敏電阻時，這些熱點會成為電流密度異常分布的區(qū)域，導致局部溫度升高并引發(fā)擊穿。穿孔失效會導致壓敏電阻的電阻值急劇下降，甚至形成短路，從而引發(fā)電路故障。

四、開路失效機理

開路失效是指壓敏電阻在受到過大的浪涌電流沖擊時，本體可能發(fā)生炸裂而導致開路狀態(tài)的現(xiàn)象。這種失效模式通常發(fā)生在壓敏電阻的浪涌電流承受能力超出其極限值時。開路失效雖然不會引起燃燒現(xiàn)象，但會導致電路中斷，從而影響設備的正常工作。

五、其他失效機理

除了上述幾種常見的失效機理外，壓敏電阻還可能受到濕度、振動、沖擊等環(huán)境因素的影響而失效。例如，過高的濕度可能導致壓敏電阻內(nèi)部的半導體材料受到腐蝕，從而改變其電阻值并引發(fā)失效。此外，振動和沖擊等機械應力也可能導致壓敏電阻內(nèi)部結構損壞或松動，進而引發(fā)失效。

綜上所述，壓敏電阻的失效機理涉及多個方面，包括熱失效、老化失效、穿孔失效、開路失效以及其他環(huán)境因素的影響。為了延長壓敏電阻的使用壽命并確保電路的安全運行，需要在設計和使用過程中充分考慮這些因素，并采取相應的保護措施。