硫化鎘光敏電阻的暗電阻和亮電阻并沒有直接的公式可以計算，因為它們的數(shù)值會受到多種因素的影響，如光照強度、溫度、材料純度以及具體的制造工藝等。然而，可以通過一些經(jīng)驗公式或特性曲線來描述硫化鎘光敏電阻的阻值變化與光照強度之間的關(guān)系。

一般來說，光照強度與光敏電阻之間的關(guān)系可以用以下經(jīng)驗公式表示：

R=R0×10(k?L)R = R_0 imes 10^{(k cdot L)}R=R0×10(k?L)

其中：

• RRR 是光敏電阻的電阻值（單位：歐姆）；

• R0R_0R0 是光敏電阻在特定光照強度下的參考電阻值（單位：歐姆）；

• kkk 是光敏電阻的材料常數(shù)，表示電阻值隨光照強度變化的敏感程度；

• LLL 是光照強度。

這個公式表明，光敏電阻的電阻值與光照強度呈指數(shù)關(guān)系。當光照強度增加時，電阻值會迅速降低。

對于硫化鎘光敏電阻來說，暗電阻通常是指在無光照或光照強度極低的情況下的電阻值，而亮電阻則是指在一定光照強度下的電阻值。由于暗電阻和亮電阻的具體數(shù)值會受到多種因素的影響，因此無法直接通過公式計算得出。

在實際應用中，通常需要通過實驗測量或查閱相關(guān)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)格書來獲取硫化鎘光敏電阻的暗電阻和亮電阻的具體數(shù)值。此外，還可以利用硫化鎘光敏電阻的伏安特性曲線或光照特性曲線來描述其阻值變化與光照強度之間的關(guān)系。這些曲線可以通過實驗測量得到，也可以從相關(guān)產(chǎn)品的技術(shù)資料中獲取。

需要注意的是，由于硫化鎘光敏電阻的阻值變化與多種因素有關(guān)，因此在實際應用中需要綜合考慮各種因素對其性能的影響，以確保傳感器的準確性和可靠性。