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irf3710引腳接線圖

來源:
2025-07-09
類別:基礎(chǔ)知識
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文章創(chuàng)建人 拍明芯城

  IRF3710 MOSFET引腳接線圖及詳細(xì)應(yīng)用指南

  IRF3710是一款廣泛應(yīng)用于電源管理、電機控制和DC-DC轉(zhuǎn)換器等領(lǐng)域的N溝道功率MOSFET。其卓越的性能參數(shù),如低導(dǎo)通電阻、高雪崩能量和快速開關(guān)速度,使其成為工程師們設(shè)計高效能電子電路的理想選擇。理解IRF3710的引腳功能及其正確的接線方式,是充分發(fā)揮其潛力的基礎(chǔ)。本文將詳細(xì)介紹IRF3710的引腳定義、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、電氣特性、典型應(yīng)用電路以及設(shè)計注意事項,力求提供一份全面而深入的參考資料,旨在幫助讀者全面理解和應(yīng)用IRF3710,從而在實際工程項目中游刃有余。我們將深入探討每一個細(xì)節(jié),確保您對IRF3710的理解達(dá)到一個全新的高度,無論是理論知識還是實踐應(yīng)用,都能得到充分的滿足。

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  一、 IRF3710引腳定義

  IRF3710通常采用TO-220AB封裝,這是一種非常常見的功率器件封裝形式,具有良好的散熱性能,使其能夠處理相對較大的電流。了解其引腳定義是正確連接和使用該器件的第一步。

  引腳1:柵極(Gate, G) 柵極是控制MOSFET導(dǎo)通和關(guān)斷的關(guān)鍵引腳。通過在柵極和源極之間施加一個電壓(VGS),可以控制MOSFET的導(dǎo)通狀態(tài)。當(dāng)$V_{GS}$超過其閾值電壓($V_{th}$)時,MOSFET開始導(dǎo)通;當(dāng)$V_{GS}$進一步增加時,導(dǎo)通電阻(RDS(on))會降低,從而允許更大的電流通過。柵極通常通過一個電阻與驅(qū)動電路連接,以限制柵極電流并防止振蕩。柵極輸入阻抗非常高,因此幾乎不消耗直流電流,但開關(guān)過程中需要對柵極電容進行充電和放電。柵極電壓的精確控制對于MOSFET的穩(wěn)定工作和效率至關(guān)重要。錯誤的柵極驅(qū)動電壓可能導(dǎo)致MOSFET無法完全導(dǎo)通(高導(dǎo)通損耗)或產(chǎn)生過度的開關(guān)損耗。此外,柵極驅(qū)動波形的上升和下降時間也會影響開關(guān)速度和電磁兼容性(EMC)性能。

  引腳2:漏極(Drain, D) 漏極是電流流出MOSFET的主要端子。在典型的開關(guān)應(yīng)用中,漏極通常連接到負(fù)載的一端。當(dāng)MOSFET導(dǎo)通時,電流從源極流向漏極,或者說,正向電流從漏極流向源極(對于N溝道MOSFET而言)。漏極電壓(VDS)是衡量MOSFET關(guān)斷狀態(tài)下能承受的最大電壓。選擇IRF3710時,必須確保其漏源擊穿電壓(VDSS)高于電路中可能出現(xiàn)的最高電壓峰值,以避免器件損壞。在實際電路中,漏極往往是連接到電源軌或者感性負(fù)載的一端。漏極的散熱設(shè)計也至關(guān)重要,因為通過漏極的電流會產(chǎn)生熱量,需要有效地散發(fā)出去以保證器件的可靠運行。

  引腳3:源極(Source, S) 源極是電流流入MOSFET的主要端子。在大多數(shù)應(yīng)用中,源極通常連接到電路的公共地或負(fù)電源軌。源極與柵極共同構(gòu)成控制電壓$V_{GS}$的參考點。在N溝道MOSFET中,電子從源極流向漏極。源極的接地質(zhì)量對MOSFET的開關(guān)性能和抗干擾能力有重要影響。一個低阻抗的源極連接可以減少寄生電感,從而改善開關(guān)波形并降低開關(guān)損耗。在一些特殊的電路拓?fù)渲?,源極可能不直接接地,而是連接到某個特定的電位,但這通常會涉及到更復(fù)雜的柵極驅(qū)動策略。

  背面金屬:漏極(Drain, D) IRF3710的TO-220封裝背面金屬片在電氣上與漏極相連。這不僅提供了額外的散熱路徑,使得器件能夠更有效地將熱量傳遞到散熱器,同時也意味著在安裝時需要特別注意絕緣問題,以避免意外短路。通常,如果多個MOSFET安裝在同一個散熱器上,或者散熱器本身與電路的其他部分有電位差,就需要使用絕緣墊片和絕緣套筒。良好的散熱對于功率MOSFET的長期可靠運行至關(guān)重要,因為過高的結(jié)溫會顯著縮短器件壽命并降低性能。因此,充分利用背面金屬片的散熱能力,并通過合適的散熱器和導(dǎo)熱材料來降低熱阻,是成功應(yīng)用IRF3710的關(guān)鍵一環(huán)。

  二、 IRF3710內(nèi)部結(jié)構(gòu)與工作原理

  IRF3710作為一款N溝道增強型功率MOSFET,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)基于金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管原理。理解其內(nèi)部構(gòu)造有助于我們更好地掌握其電氣特性和開關(guān)行為。

  P型襯底與N型漏極/源極區(qū) IRF3710的核心是一個P型硅襯底。在P型襯底上通過摻雜工藝形成了兩個高濃度N型區(qū)域,分別作為漏極和源極。這兩個N型區(qū)域與P型襯底之間形成了PN結(jié)。

  柵極氧化層與多晶硅柵極 在P型襯底和漏極/源極區(qū)域之間,覆蓋著一層極薄的二氧化硅絕緣層,這就是柵極氧化層。柵極氧化層上方是多晶硅柵極。柵極、柵極氧化層和P型襯底共同構(gòu)成了MOS電容器結(jié)構(gòu)。這個電容器是控制MOSFET導(dǎo)通和關(guān)斷的關(guān)鍵。柵極氧化層的厚度、介電常數(shù)和質(zhì)量直接影響了MOSFET的閾值電壓、跨導(dǎo)以及可靠性。高品質(zhì)的柵極氧化層能夠承受更高的柵極電壓而不會發(fā)生擊穿,從而提升器件的魯棒性。

  溝道形成 當(dāng)柵極與源極之間的電壓$V_{GS}為零或低于閾值電壓時,P型襯底與N型漏極/源極之間存在反向偏置的PN結(jié),沒有導(dǎo)電溝道形成,MOSFET處于關(guān)斷狀態(tài),漏極和源極之間呈現(xiàn)高阻抗。當(dāng)V_{GS}超過閾值電壓時,柵極上的正電壓通過柵極氧化層對P型襯底中的空穴產(chǎn)生排斥力,同時吸引電子聚集到柵極氧化層下方的P型襯底表面。當(dāng)聚集的電子濃度足夠高時,會在柵極下方形成一個N型導(dǎo)電溝道,連接源極和漏極。此時,漏極和源極之間可以導(dǎo)通電流。柵極電壓越高,形成的導(dǎo)電溝道越寬,電子濃度越高,從而導(dǎo)致導(dǎo)通電阻R_{DS(on)}$越低,允許通過的電流越大。

  體二極管 在N溝道MOSFET的結(jié)構(gòu)中,P型襯底和N型漏極區(qū)域之間自然形成一個PN結(jié)。這個PN結(jié)通常被稱為體二極管(Body Diode)或寄生二極管。在正常工作狀態(tài)下,體二極管通常處于反向偏置狀態(tài)。然而,在某些情況下,例如感性負(fù)載的續(xù)流或者橋式電路的死區(qū)時間,體二極管可能會正向?qū)?,提供電流路徑。體二極管的特性,如正向壓降(VSD)和反向恢復(fù)時間(trr),對電路性能有重要影響,特別是在高頻開關(guān)應(yīng)用中。體二極管的快速恢復(fù)特性可以減少反向恢復(fù)損耗,提高系統(tǒng)效率。

  三、 IRF3710電氣特性

  了解IRF3710的電氣特性對于正確設(shè)計和優(yōu)化電路至關(guān)重要。這些參數(shù)決定了器件在不同工作條件下的行為。

  漏源電壓 (VDSS) 漏源電壓是指MOSFET在關(guān)斷狀態(tài)下,漏極和源極之間所能承受的最大電壓。IRF3710的$V_{DSS}$通常為30V。在設(shè)計電路時,必須確保電路中可能出現(xiàn)的最高電壓峰值不超過這一限制,否則可能導(dǎo)致器件雪崩擊穿而損壞。特別是在開關(guān)感性負(fù)載時,電壓尖峰可能會遠(yuǎn)超電源電壓,因此需要采取保護措施,如使用緩沖電路(Snubber Circuit)或瞬態(tài)電壓抑制器(TVS)。

  連續(xù)漏極電流 (ID) 連續(xù)漏極電流是指MOSFET在一定溫度下能夠連續(xù)通過的最大電流。IRF3710在25°C殼溫下的連續(xù)漏極電流可以達(dá)到230A,但在100°C時會降至160A。需要注意的是,這個電流值是在理想散熱條件下的額定值。實際應(yīng)用中,器件結(jié)溫會升高,因此實際可承受的電流會降低。設(shè)計師需要根據(jù)實際工作溫度和散熱條件對電流進行降額處理,以確保器件不會過熱。

  脈沖漏極電流 (IDM) 脈沖漏極電流是指MOSFET在短時間脈沖內(nèi)所能承受的最大電流。IRF3710的$I_{DM}可以達(dá)到920A。這個參數(shù)對于那些需要處理大電流尖峰的應(yīng)用非常重要,例如電機啟動或電容充電。然而,脈沖持續(xù)時間必須足夠短,以避免器件結(jié)溫過高。數(shù)據(jù)手冊通常會給出I_{DM}$與脈沖寬度和占空比的關(guān)系曲線。

  導(dǎo)通電阻 (RDS(on)) 導(dǎo)通電阻是MOSFET在完全導(dǎo)通狀態(tài)下,漏極和源極之間的等效電阻。IRF3710的典型$R_{DS(on)}$在$V_{GS}=10V$、ID=230A時僅為2.8mΩ。較低的導(dǎo)通電阻意味著在電流通過時器件上的電壓降較小,從而產(chǎn)生的導(dǎo)通損耗(Pcond=ID2×RDS(on))也較低,有助于提高電路效率。導(dǎo)通電阻會隨結(jié)溫的升高而增大,因此在高溫環(huán)境下,導(dǎo)通損耗也會相應(yīng)增加。這是設(shè)計散熱系統(tǒng)時需要考慮的重要因素。

  柵極閾值電壓 (VGS(th)) 柵極閾值電壓是指使MOSFET開始導(dǎo)通所需的最小柵極-源極電壓。IRF3710的$V_{GS(th)}$通常在2.0V至4.0V之間。在選擇柵極驅(qū)動電壓時,必須確保其遠(yuǎn)高于$V_{GS(th)}$,以使MOSFET完全導(dǎo)通并達(dá)到最低的RDS(on)。通常,為了確保IRF3710完全飽和導(dǎo)通,柵極驅(qū)動電壓通常選擇10V或12V。低于閾值電壓的柵極信號將使MOSFET處于截止?fàn)顟B(tài),而介于閾值電壓和完全導(dǎo)通電壓之間的柵極信號將使MOSFET工作在線性區(qū),產(chǎn)生高功耗。

  柵極電荷 (Qg) 柵極電荷是指在MOSFET開關(guān)過程中,柵極電容需要充電和放電的總電荷量。IRF3710的總柵極電荷(Qg)通常為190nC。這個參數(shù)對于計算柵極驅(qū)動電路所需的電流和功耗非常重要。柵極電荷越大,驅(qū)動電路需要提供的峰值電流就越大,開關(guān)時間也會越長,從而可能導(dǎo)致更高的開關(guān)損耗。在高速開關(guān)應(yīng)用中,選擇柵極電荷較低的MOSFET可以有效降低驅(qū)動電路的復(fù)雜性和功耗。

  輸入電容 (Ciss),輸出電容 (Coss),反向傳輸電容 (Crss) 這些是MOSFET的寄生電容,它們對開關(guān)速度和損耗有顯著影響。

  輸入電容 (Ciss):柵極與源極之間的電容,主要由柵源電容和柵漏電容組成。它決定了柵極驅(qū)動電路需要提供的充電電流大小。IRF3710的$C_{iss}$通常為5000pF。

  輸出電容 (Coss):漏極與源極之間的電容,主要由漏源電容組成。它影響了MOSFET關(guān)斷時的電壓上升速率。IRF3710的$C_{oss}$通常為920pF。

  反向傳輸電容 (Crss):柵極與漏極之間的電容,也被稱為米勒電容(Miller Capacitance)。它在MOSFET開關(guān)過程中起到關(guān)鍵作用,會導(dǎo)致米勒平臺效應(yīng),影響開關(guān)速度和產(chǎn)生開關(guān)損耗。IRF3710的$C_{rss}$通常為620pF。這些電容的值會隨漏源電壓的變化而變化,尤其是在高壓時會減小。在高速開關(guān)應(yīng)用中,這些寄生電容會導(dǎo)致開關(guān)損耗,因此需要選擇具有較低寄生電容的器件或采用合適的柵極驅(qū)動策略來應(yīng)對。

  雪崩能量 (EAS) 雪崩能量是指MOSFET在雪崩擊穿區(qū)能夠吸收的最大能量。IRF3710的單脈沖雪崩能量(EAS)通常為800mJ。這個參數(shù)對于保護MOSFET免受感性負(fù)載斷開時產(chǎn)生的電壓尖峰影響非常重要。在設(shè)計過程中,應(yīng)確保電路中可能出現(xiàn)的雪崩能量不超過器件的額定值,否則可能導(dǎo)致永久性損壞。通常會通過鉗位電路或吸收電路來限制雪崩能量。

  四、 IRF3710典型應(yīng)用電路

  IRF3710因其優(yōu)異的性能,廣泛應(yīng)用于多種電源和控制電路中。以下是幾個典型的應(yīng)用示例:

  直流電機驅(qū)動電路 IRF3710非常適合用于驅(qū)動直流電機。在簡單的單向驅(qū)動中,一個IRF3710可以作為高側(cè)或低側(cè)開關(guān)來控制電機的啟停和轉(zhuǎn)速(通過PWM調(diào)節(jié))。

  電路描述: 一個典型的低側(cè)驅(qū)動電路中,IRF3710的源極接地,漏極連接到電機的一端,電機的另一端連接到正電源。柵極通過一個柵極驅(qū)動器連接到微控制器或PWM信號源。為了保護MOSFET,通常會在漏極和源極之間并聯(lián)一個續(xù)流二極管(如肖特基二極管),在電機斷電時為感性負(fù)載電流提供一個路徑,防止產(chǎn)生高壓反電動勢損壞MOSFET。柵極驅(qū)動器提供足夠強的電流來快速充電和放電MOSFET的柵極電容,確保MOSFET快速導(dǎo)通和關(guān)斷,從而降低開關(guān)損耗。為了避免柵極振蕩,通常會在柵極和驅(qū)動器之間串聯(lián)一個幾歐姆到幾十歐姆的柵極電阻。

  工作原理: 當(dāng)微控制器輸出高電平PWM信號時,柵極驅(qū)動器將柵極電壓拉高到足以使IRF3710完全導(dǎo)通(例如10V),電機獲得供電并開始轉(zhuǎn)動。當(dāng)PWM信號為低電平時,柵極驅(qū)動器將柵極電壓拉低到0V,IRF3710關(guān)斷,電機斷電。通過調(diào)節(jié)PWM信號的占空比,可以改變施加到電機上的平均電壓,從而控制電機的轉(zhuǎn)速。續(xù)流二極管在MOSFET關(guān)斷瞬間提供電流路徑,避免電壓尖峰損壞MOSFET。

  開關(guān)電源(DC-DC轉(zhuǎn)換器) IRF3710可以作為開關(guān)元件應(yīng)用于各種DC-DC轉(zhuǎn)換器,如降壓(Buck)、升壓(Boost)和升降壓(Buck-Boost)轉(zhuǎn)換器。

  電路描述: 以一個簡單的同步降壓轉(zhuǎn)換器為例。IRF3710可以作為主開關(guān),連接輸入電壓和電感,另一個IRF3710或肖特基二極管作為同步整流器,連接電感和地。主開關(guān)的柵極由PWM信號驅(qū)動,同步整流器(如果使用MOSFET)的柵極由與主開關(guān)互補的PWM信號驅(qū)動,并帶有死區(qū)時間控制。輸出端連接濾波電容和負(fù)載。

  工作原理: 當(dāng)主開關(guān)IRF3710導(dǎo)通時,輸入電壓施加到電感上,電感電流線性增加,能量儲存在電感中。當(dāng)主開關(guān)關(guān)斷時,電感電流流過同步整流器(或續(xù)流二極管),將能量傳輸?shù)捷敵鰹V波電容和負(fù)載。通過調(diào)節(jié)主開關(guān)的PWM占空比,可以控制輸出電壓。由于IRF3710具有極低的導(dǎo)通電阻,在同步整流應(yīng)用中可以顯著降低導(dǎo)通損耗,提高轉(zhuǎn)換效率,特別是在低輸出電壓大電流的應(yīng)用中,比使用肖特基二極管更具優(yōu)勢。同步整流中的死區(qū)時間控制至關(guān)重要,以防止主開關(guān)和同步整流MOSFET同時導(dǎo)通而引起短路。

  逆變器 IRF3710也可以用于逆變器電路,將直流電轉(zhuǎn)換為交流電。

  電路描述: 在一個簡單的全橋逆變器中,需要四個IRF3710組成H橋結(jié)構(gòu)。每對對角的MOSFET同時導(dǎo)通和關(guān)斷,通過高頻PWM控制產(chǎn)生交流輸出。

  工作原理: 通過控制四路MOSFET的開關(guān)順序和占空比,可以合成出所需的交流波形(通常是方波或SPWM波)。例如,當(dāng)IRF3710 Q1和Q4導(dǎo)通時,電流從電源流經(jīng)負(fù)載;當(dāng)IRF3710 Q2和Q3導(dǎo)通時,電流反向流經(jīng)負(fù)載。通過快速切換這些狀態(tài)并調(diào)整開關(guān)的占空比,可以在負(fù)載上產(chǎn)生近似正弦波的交流電壓。逆變器設(shè)計中,需要特別注意死區(qū)時間控制,以防止橋臂短路,同時確保柵極驅(qū)動信號的同步性和精確性。高頻開關(guān)使得輸出波形更平滑,但也會增加開關(guān)損耗。

  固態(tài)繼電器 由于其低導(dǎo)通電阻和高電流處理能力,IRF3710可以作為固態(tài)繼電器的功率開關(guān)元件。

  電路描述: 一個簡單的固態(tài)繼電器可以由一個光耦隔離器和一個IRF3710組成。光耦用于提供控制信號和高壓側(cè)的電氣隔離。光耦的輸出驅(qū)動IRF3710的柵極。

  工作原理: 當(dāng)控制信號激活光耦時,光耦的輸出驅(qū)動IRF3710導(dǎo)通,從而使大電流負(fù)載通路閉合。當(dāng)控制信號撤銷時,IRF3710關(guān)斷,負(fù)載通路斷開。相比于傳統(tǒng)的機械繼電器,固態(tài)繼電器具有無觸點、開關(guān)速度快、壽命長、無噪音、無電弧等優(yōu)點,特別適合高頻開關(guān)和惡劣環(huán)境應(yīng)用。

  五、 IRF3710設(shè)計注意事項

  在將IRF3710集成到電路中時,必須考慮以下關(guān)鍵設(shè)計因素,以確保其穩(wěn)定、高效和可靠地運行。

  柵極驅(qū)動設(shè)計 柵極驅(qū)動是MOSFET正確工作的核心。由于IRF3710的柵極電容相對較大,需要一個能夠提供足夠峰值電流的柵極驅(qū)動器,以便快速充電和放電柵極電容,從而實現(xiàn)快速開關(guān)并降低開關(guān)損耗。

  柵極驅(qū)動電壓: 建議使用10V至12V的柵極驅(qū)動電壓,以確保IRF3710完全飽和導(dǎo)通,從而獲得最低的RDS(on)。低于推薦電壓可能導(dǎo)致器件工作在非飽和區(qū),增加導(dǎo)通損耗并可能引發(fā)熱失控。

  柵極電阻(RG): 在柵極和驅(qū)動器輸出之間串聯(lián)一個柵極電阻是至關(guān)重要的。RG的作用有:

  柵極驅(qū)動器選擇: 建議使用專門的MOSFET柵極驅(qū)動芯片。這些芯片通常具有高輸出電流能力、快速上升/下降時間、欠壓鎖定(UVLO)和過熱保護等功能,可以簡化驅(qū)動電路設(shè)計并提高可靠性。在半橋或全橋應(yīng)用中,還需要考慮高側(cè)驅(qū)動的自舉電路或隔離驅(qū)動方案。

  限制柵極電流: 保護柵極驅(qū)動器免受過大電流沖擊。

  抑制振蕩: 與柵極寄生電感和MOSFET輸入電容形成的LC振蕩電路,通過RG的阻尼作用可以有效抑制高頻振蕩,避免不必要的EMC問題和MOSFET誤觸發(fā)。

  控制開關(guān)速度: 較大的RG會減慢柵極電壓的上升和下降速度,從而延長開關(guān)時間,增加開關(guān)損耗;較小的RG則會加快開關(guān)速度,但可能引起振蕩并對驅(qū)動器提出更高的電流要求。需要根據(jù)應(yīng)用需求和開關(guān)頻率選擇合適的RG值。

  散熱設(shè)計 IRF3710作為功率器件,在工作時會產(chǎn)生熱量,主要來源于導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗。有效的散熱是確保器件長期可靠運行的關(guān)鍵。

  散熱器: 必須為IRF3710配備合適的散熱器。散熱器的選擇取決于器件的功耗、環(huán)境溫度和允許的結(jié)溫。功耗可以通過$P_{total} = P_{cond} + P_{sw}$計算,其中$P_{cond} = I_D^2 imes R_{DS(on)}$,$P_{sw}$為開關(guān)損耗,它與開關(guān)頻率、柵極電荷和開關(guān)時間有關(guān)。

  熱阻: 散熱系統(tǒng)的效率由總熱阻決定,即結(jié)到環(huán)境的熱阻RθJA=RθJC+RθCS+RθSA。其中$R_{ heta JC}$是結(jié)到殼的熱阻(由器件本身決定),$R_{ heta CS}$是殼到散熱器的熱阻(由接觸面和導(dǎo)熱材料決定),$R_{ heta SA}$是散熱器到環(huán)境的熱阻(由散熱器尺寸和氣流條件決定)。目標(biāo)是使總熱阻足夠低,以確保在最大功耗下,器件結(jié)溫不超過其最大額定結(jié)溫(通常為175°C)。

  導(dǎo)熱材料: 在IRF3710的背面金屬片和散熱器之間使用導(dǎo)熱硅脂或?qū)釅|片,以減小接觸熱阻,提高導(dǎo)熱效率。

  絕緣: 由于IRF3710的背面金屬片與漏極相連,如果散熱器接地或與多個MOSFET共用,則必須使用絕緣墊片和絕緣套筒,以防止短路或電位差引起的問題。

  電源去耦與旁路 在MOSFET的漏極和源極之間,以及電源輸入端,應(yīng)放置足夠大的去耦電容。

  高頻去耦: 在靠近MOSFET漏極和源極引腳處,放置高頻陶瓷電容(例如0.1μF或1μF),用于濾除高頻噪聲和尖峰,并為快速開關(guān)提供局部低阻抗電流路徑,減少開關(guān)瞬態(tài)引起的電壓過沖。這些電容有助于抑制米勒效應(yīng)引起的振蕩。

  低頻去耦: 在電路輸入端放置大容量電解電容,用于穩(wěn)定直流電源電壓,并提供足夠的能量存儲,以應(yīng)對負(fù)載瞬態(tài)變化。

  瞬態(tài)電壓保護 感性負(fù)載的開關(guān),如電機和變壓器,會在關(guān)斷瞬間產(chǎn)生高壓尖峰(反電動勢),可能超過IRF3710的$V_{DSS}$而損壞器件。

  續(xù)流二極管: 在感性負(fù)載兩端并聯(lián)一個反向恢復(fù)速度快、額定電流足夠大的續(xù)流二極管(如肖特基二極管),在MOSFET關(guān)斷時為感性電流提供一個通路,將電壓鉗位在較低水平。

  緩沖電路(Snubber Circuit): 對于高壓或高功率應(yīng)用,可以采用RC或RCD緩沖電路來吸收開關(guān)瞬態(tài)能量,抑制電壓尖峰和電流振鈴,保護MOSFET并改善EMC性能。

  TVS二極管: 在某些情況下,可以使用瞬態(tài)電壓抑制(TVS)二極管直接跨接在漏源之間,當(dāng)電壓超過設(shè)定值時提供瞬時鉗位保護。

  布局布線 合理的PCB布局布線對于高性能電源電路至關(guān)重要,特別是對于功率MOSFET。

  短粗連接: 功率路徑(漏極、源極和電源連接)應(yīng)盡可能短而粗,以減小寄生電感和電阻,從而降低導(dǎo)通損耗和開關(guān)瞬態(tài)電壓降。

  星形接地: 采用星形接地或單點接地,將功率地和信號地分開,避免地線上的電流回路干擾敏感的控制信號。將柵極驅(qū)動器盡可能靠近MOSFET放置,縮短柵極驅(qū)動環(huán)路,降低寄生電感,提高開關(guān)速度和抗干擾能力。

  避免交叉干擾: 功率走線和信號走線應(yīng)避免平行長距離布線,以減少電磁耦合和串?dāng)_。

  大面積覆銅: 在大電流路徑上使用大面積覆銅,不僅可以降低電阻,還可以作為額外的散熱面積。

  溫度管理 MOSFET的性能參數(shù)(如RDS(on)、VGS(th))都會隨溫度變化。

  降額使用: 考慮到實際工作環(huán)境溫度和器件內(nèi)部溫升,應(yīng)對IRF3710的電流、電壓等參數(shù)進行降額使用,留有足夠的裕量。例如,當(dāng)環(huán)境溫度較高時,其最大允許電流會顯著降低。

  溫度監(jiān)測: 在關(guān)鍵應(yīng)用中,可以考慮在散熱器或PCB上安裝溫度傳感器,實時監(jiān)測器件溫度,并根據(jù)溫度調(diào)節(jié)風(fēng)扇轉(zhuǎn)速或限制輸出功率,以防止過熱。

  并聯(lián)使用 在需要處理更大電流或降低總導(dǎo)通電阻時,多個IRF3710可以并聯(lián)使用。

  均流電阻: 由于MOSFET的$R_{DS(on)}具有正溫度系數(shù),當(dāng)溫度升高時R_{DS(on)}$會增大,這有助于并聯(lián)器件之間的均流。但在并聯(lián)時,為了確保均流和防止振蕩,通常會在每個MOSFET的源極串聯(lián)一個小的均流電阻(例如幾毫歐姆)。

  獨立的柵極電阻: 每個并聯(lián)的MOSFET都應(yīng)該有自己的獨立的柵極電阻,以防止柵極驅(qū)動信號的相互影響和振蕩。

  對稱布局: 確保并聯(lián)器件的布局盡可能對稱,以使每個器件承受的電流和溫度分布均勻。

  通過全面考慮上述設(shè)計注意事項,工程師可以最大限度地發(fā)揮IRF3710的性能優(yōu)勢,確保其在各種應(yīng)用中長期穩(wěn)定、高效地運行。對每一個環(huán)節(jié)的精細(xì)化設(shè)計和優(yōu)化,都將直接體現(xiàn)在最終產(chǎn)品的性能、可靠性與成本效益上。

  六、 IRF3710的性能優(yōu)勢與局限性

  性能優(yōu)勢:

  極低的導(dǎo)通電阻(RDS(on)): IRF3710最顯著的優(yōu)勢之一是其極低的導(dǎo)通電阻,典型值僅為2.8mΩ。這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,器件本身的電壓降非常小,從而大幅降低了導(dǎo)通損耗,提高了電路的整體效率。這在電池供電系統(tǒng)、高功率電源轉(zhuǎn)換以及需要盡可能減少能量損耗的應(yīng)用中尤為重要。較低的導(dǎo)通損耗也意味著在相同電流下,器件產(chǎn)生的熱量更少,從而簡化了散熱設(shè)計。

  高電流處理能力: 憑借其低導(dǎo)通電阻和TO-220AB封裝良好的散熱能力,IRF3710能夠處理高達(dá)230A的連續(xù)漏極電流和920A的脈沖漏極電流。這種高電流能力使其非常適合于大功率電機驅(qū)動、高電流開關(guān)電源以及其他需要大電流輸出的應(yīng)用。在短時過載或啟動沖擊的場景下,其高脈沖電流能力提供了額外的裕量和魯棒性。

  高雪崩能量: 800mJ的單脈沖雪崩能量表明IRF3710具有出色的抗雪崩能力。在感性負(fù)載突然斷開時,由于電感存儲能量的釋放,可能會產(chǎn)生瞬態(tài)高壓尖峰。IRF3710能夠安全地吸收一定量的雪崩能量,這在一定程度上提供了內(nèi)置的保護,減少了對外部瞬態(tài)抑制電路的依賴,或者在極端情況下提供了額外的安全裕度。

  快速開關(guān)速度: 雖然柵極電荷相對較大,但通過合適的柵極驅(qū)動器,IRF3710仍能實現(xiàn)較快的開關(guān)速度。這對于高頻開關(guān)應(yīng)用(如開關(guān)電源和PWM電機控制)至關(guān)重要,因為更快的開關(guān)速度可以減少開關(guān)損耗,從而提高整體效率。低開關(guān)損耗在高頻應(yīng)用中可以顯著降低器件發(fā)熱,減小對散熱器的需求,從而縮小系統(tǒng)體積。

  標(biāo)準(zhǔn)封裝: TO-220AB封裝是一種通用且成熟的功率器件封裝,具有良好的機械強度和散熱性能。這種封裝易于安裝和連接,并且兼容性強,市場上可選擇的散熱器和安裝附件種類豐富,降低了設(shè)計和制造成本。

  局限性:

  漏源電壓(VDSS)相對較低: IRF3710的$V_{DSS}$為30V,這意味著它不適用于輸入電壓高于30V的電路。在汽車電子系統(tǒng)中,12V或24V系統(tǒng)是其主要應(yīng)用場景。對于需要處理更高電壓的應(yīng)用,例如48V系統(tǒng)或離線式電源,則需要選擇更高電壓等級的MOSFET。在感性負(fù)載開關(guān)應(yīng)用中,需要特別注意電壓尖峰是否會超過30V,可能需要額外的保護電路。

  柵極電荷相對較大: 190nC的總柵極電荷在快速開關(guān)應(yīng)用中意味著柵極驅(qū)動器需要提供較大的峰值電流,以確??焖俪潆姾头烹姈艠O電容。這會增加?xùn)艠O驅(qū)動電路的復(fù)雜性和成本,并導(dǎo)致驅(qū)動損耗的增加。在高頻應(yīng)用中,驅(qū)動損耗甚至可能成為主要的損耗來源。

  體二極管反向恢復(fù)特性: 雖然IRF3710具有內(nèi)置的體二極管,但在某些高頻硬開關(guān)應(yīng)用中,其體二極管的反向恢復(fù)特性可能不夠理想。如果體二極管在反向恢復(fù)過程中產(chǎn)生較大的反向恢復(fù)電流和較長的恢復(fù)時間,可能會導(dǎo)致額外的開關(guān)損耗和EMI問題。在這些應(yīng)用中,可能需要并聯(lián)額外的肖特基二極管來分擔(dān)電流,或采用軟開關(guān)技術(shù)來降低對體二極管特性的依賴。

  TO-220封裝散熱限制: 盡管TO-220封裝具有良好的散熱性能,但它仍然是通孔安裝器件,其散熱能力最終受限于封裝本身的熱阻。在極高電流或高環(huán)境溫度下,可能需要非常大的散熱器或強制風(fēng)冷,這會增加系統(tǒng)體積和成本。對于更高的功率密度需求,可能需要考慮表面貼裝(SMD)封裝的MOSFET,如TO-263(D2PAK)或其他更先進的功率封裝。

  柵極驅(qū)動靈敏度: 功率MOSFET的柵極易受靜電放電(ESD)損壞,在處理和安裝過程中需要格外小心。此外,外部噪聲耦合到柵極也可能導(dǎo)致誤觸發(fā)或振蕩,因此需要細(xì)致的PCB布局和濾波措施。

  盡管IRF3710存在一些局限性,但其在低壓大電流應(yīng)用中的突出優(yōu)勢使其成為許多電源和控制電路的理想選擇。理解其優(yōu)缺點,并結(jié)合具體的應(yīng)用需求進行權(quán)衡,是成功設(shè)計高效、可靠電子系統(tǒng)的關(guān)鍵。

  七、 IRF3710的封裝信息

  IRF3710通常采用TO-220AB封裝,這是一種非常標(biāo)準(zhǔn)且廣泛使用的直插式功率半導(dǎo)體封裝。了解其封裝尺寸和特點對于PCB布局和散熱設(shè)計至關(guān)重要。

  封裝類型: TO-220AB是一種三引腳塑料封裝,主要用于功率晶體管和MOSFET。其特點是背面帶有一個金屬散熱片,可以直接連接到散熱器,以便有效散發(fā)器件產(chǎn)生的熱量。

  尺寸與結(jié)構(gòu):

  引腳間距: 三個引腳的中心間距通常為2.54mm(100mil),便于在標(biāo)準(zhǔn)通用板或PCB上進行安裝。

  散熱片: 散熱片是封裝的核心部分,其尺寸較大,提供了與外部散熱器連接的表面。散熱片上通常有一個安裝孔,用于螺釘固定。如前所述,散熱片在電氣上與漏極(Drain)相連。

  主體尺寸: 封裝主體呈矩形,通常長度在15mm左右,寬度在10mm左右,高度(不含引腳)在4.5mm左右。引腳長度通常為13-15mm。

  熱性能: TO-220AB封裝的主要優(yōu)勢在于其散熱性能。金屬散熱片通過直接接觸器件芯片的漏極區(qū)域,能夠有效地將熱量從芯片傳導(dǎo)至封裝外部。通過在散熱片上安裝額外的散熱器,可以進一步降低器件的結(jié)溫,提高其可靠性和功率處理能力。殼到環(huán)境的熱阻(RθCA)取決于散熱器的大小和環(huán)境對流條件。

  機械特性: 該封裝具有良好的機械強度,能夠承受一定的振動和沖擊。引腳易于焊接,適合波峰焊和手工焊接。安裝時需要使用螺釘和墊片,確保散熱片與散熱器之間有良好的機械接觸和導(dǎo)熱性。

  引腳標(biāo)識: 引腳通常從左到右依次為柵極(Gate)、漏極(Drain)、源極(Source)。但為了確保萬無一失,始終應(yīng)參考制造商的數(shù)據(jù)手冊確認(rèn)引腳定義。

  應(yīng)用考量: 在PCB設(shè)計中,需要為TO-220封裝預(yù)留足夠的空間,并考慮散熱器的安裝位置。散熱片通常需要與高功率路徑連接,并根據(jù)需要進行電氣隔離。在空間受限或需要更高功率密度的應(yīng)用中,可能會選擇表面貼裝的D2PAK(TO-263)或其他更緊湊的功率封裝。

  理解TO-220AB封裝的這些細(xì)節(jié),有助于工程師在設(shè)計階段就充分考慮到IRF3710的物理安裝、散熱需求以及電氣連接,從而確保整個系統(tǒng)的穩(wěn)健運行。

  八、 IRF3710與相關(guān)器件的對比

  在選擇功率MOSFET時,工程師通常會比較不同型號的器件,以找到最適合特定應(yīng)用的產(chǎn)品。IRF3710在低壓大電流領(lǐng)域表現(xiàn)出色,但與其他一些常見MOSFET相比,也有其特定的定位。

  IRF3710 vs. IRFZ44N:

  VDSS: IRF3710為30V,IRFZ44N為55V。IRFZ44N在電壓裕量上更勝一籌,適合電壓稍高的應(yīng)用。

  RDS(on): IRF3710的RDS(on)(2.8mΩ)遠(yuǎn)低于IRFZ44N(17.5mΩ)。這意味著在相同電流下,IRF3710的導(dǎo)通損耗更低,效率更高。

  ID: IRF3710的連續(xù)漏極電流(230A)遠(yuǎn)高于IRFZ44N(49A)。這使得IRF3710更適合大電流應(yīng)用。

  柵極電荷: IRF3710的柵極電荷(190nC)高于IRFZ44N(63nC)。這表示驅(qū)動IRF3710需要更強的柵極驅(qū)動能力。

  總結(jié): IRF3710在高電流、低導(dǎo)通損耗方面具有顯著優(yōu)勢,但電壓等級稍低,驅(qū)動要求更高。IRFZ44N則適用于對電壓有更高要求但電流相對較小的應(yīng)用。

  IRF3710 vs. 碳化硅(SiC)MOSFET:

  材料: IRF3710基于硅(Si),而SiC MOSFET則基于碳化硅。

  電壓等級: SiC MOSFET通常具有非常高的電壓等級(600V-1700V甚至更高),遠(yuǎn)超IRF3710。

  RDS(on): 在相同電壓等級下,SiC MOSFET的導(dǎo)通電阻通常比硅基MOSFET低得多,且$R_{DS(on)}$的正溫度系數(shù)更小,在高溫下性能更穩(wěn)定。

  開關(guān)速度與損耗: SiC MOSFET的柵極電荷和輸出電容(Coss)遠(yuǎn)小于同等電壓等級的硅基MOSFET,這意味著更快的開關(guān)速度和更低的開關(guān)損耗,尤其在高頻應(yīng)用中優(yōu)勢明顯。其體二極管的反向恢復(fù)特性也遠(yuǎn)優(yōu)于硅基MOSFET。

  成本: 目前SiC MOSFET的成本顯著高于硅基MOSFET。

  總結(jié): SiC MOSFET是高壓、高頻、高效率應(yīng)用的未來趨勢,但成本較高。IRF3710則專注于低壓大電流,性價比更高,在許多成熟應(yīng)用中仍是主流選擇。

  IRF3710 vs. 絕緣柵雙極晶體管(IGBT):

  器件類型: MOSFET是多數(shù)載流子器件,IGBT是少數(shù)載流子器件。

  電壓/電流: IGBT通常用于高電壓(幾百伏至幾千伏)和大電流(幾十安到幾百安)應(yīng)用,特別是在中低頻開關(guān)場景下。IRF3710適用于低壓大電流。

  導(dǎo)通損耗: 在高電壓大電流下,IGBT的導(dǎo)通壓降(飽和壓降VCE(sat))相對穩(wěn)定,不像MOSFET的$R_{DS(on)}$那樣隨電流線性增加。這使得IGBT在高電流下導(dǎo)通損耗可能低于MOSFET。

  開關(guān)速度: MOSFET通常比IGBT具有更快的開關(guān)速度,特別是在低壓應(yīng)用中。IGBT由于少數(shù)載流子的注入和提取過程,通常有較長的拖尾電流,這在高頻應(yīng)用中會增加開關(guān)損耗。

  柵極驅(qū)動: MOSFET是電壓驅(qū)動器件,柵極驅(qū)動相對簡單。IGBT也是電壓驅(qū)動,但其柵極電荷通常更大,需要更強的驅(qū)動能力。

  總結(jié): IRF3710適用于低壓大電流的高頻開關(guān)應(yīng)用,而IGBT更適合高壓大電流的中低頻開關(guān)應(yīng)用,如變頻器、UPS等。

  通過這些對比,我們可以看到IRF3710在特定的應(yīng)用領(lǐng)域(如汽車電子、低壓電機控制、太陽能微逆變器、電池管理系統(tǒng)中的功率開關(guān)等)具有其獨特的優(yōu)勢。在設(shè)計選擇時,需要根據(jù)系統(tǒng)的電壓、電流、開關(guān)頻率、效率要求以及成本預(yù)算等多個維度進行綜合考量。

  九、 未來發(fā)展趨勢對IRF3710應(yīng)用的影響

  隨著電力電子技術(shù)的不斷發(fā)展,新的材料、封裝和設(shè)計理念層出不窮,這些趨勢也將在不同程度上影響IRF3710及其類似硅基MOSFET的應(yīng)用前景。

  新材料半導(dǎo)體(寬禁帶半導(dǎo)體)的崛起: 碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等寬禁帶半導(dǎo)體器件正在逐步進入市場,并在高壓、高頻、高溫應(yīng)用中展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢。

  對IRF3710的影響: SiC和GaN器件在高壓和超高頻應(yīng)用中將逐漸替代硅基MOSFET和IGBT。然而,在IRF3710所擅長的低壓大電流(<100V)領(lǐng)域,SiC和GaN器件的成本優(yōu)勢尚未完全顯現(xiàn),且低壓SiC/GaN產(chǎn)品種類和產(chǎn)能仍在發(fā)展中。因此,在未來一段時間內(nèi),IRF3710及其優(yōu)化后的硅基MOSFET仍將是這一領(lǐng)域的主流選擇,特別是對于成本敏感和成熟的技術(shù)方案。但隨著SiC/GaN技術(shù)的成熟和成本的降低,它們可能會逐步蠶食部分低壓大電流市場,尤其是在對效率和功率密度有極致追求的應(yīng)用中。例如,對于需要更高效率的電動汽車DC-DC轉(zhuǎn)換器和電池管理系統(tǒng),即使在較低電壓下,更低的導(dǎo)通電阻和更快的開關(guān)速度帶來的效率提升也可能justify更高的成本。

  封裝技術(shù)的創(chuàng)新: 傳統(tǒng)的TO-220封裝在散熱方面有其局限性。隨著對功率密度和散熱效率的更高要求,更先進的封裝技術(shù)正在被開發(fā)。

  對IRF3710的影響: 雖然IRF3710本身是TO-220封裝,但未來的趨勢是向更扁平、更緊湊、熱阻更低的封裝發(fā)展,如D2PAK(TO-263)、LFPAK、DirectFET等表面貼裝封裝,以及晶圓級封裝(WLP)。這些封裝能夠更好地利用PCB作為散熱路徑,并實現(xiàn)更高的功率密度。對于IRF3710的迭代產(chǎn)品或后續(xù)開發(fā),可能會采用更先進的封裝來提升性能。例如,同樣參數(shù)的MOSFET采用D2PAK封裝可能比TO-220更小巧,且在某些條件下能提供更好的散熱。

  集成化與模塊化: 將MOSFET與柵極驅(qū)動器、保護電路甚至控制邏輯集成到單個模塊或芯片中,可以簡化系統(tǒng)設(shè)計,提高可靠性,并減小體積。

  對IRF3710的影響: 未來可能會出現(xiàn)更多基于IRF3710或其后代產(chǎn)品的集成電源模塊(IPM),例如集成了柵極驅(qū)動和保護功能的半橋或全橋模塊。這將使工程師能夠更快速、更方便地實現(xiàn)復(fù)雜的功率轉(zhuǎn)換功能,而無需單獨設(shè)計和調(diào)試每個分立器件。這種趨勢將使得IRF3710的應(yīng)用從簡單的分立元件向更高級的集成解決方案演進。

  更高開關(guān)頻率的需求: 為了減小磁性元件(電感、變壓器)的體積和重量,現(xiàn)代電源系統(tǒng)正朝著更高的開關(guān)頻率發(fā)展。

  對IRF3710的影響: 雖然IRF3710能夠進行高速開關(guān),但在極高頻率下,其相對較大的柵極電荷和體二極管的反向恢復(fù)特性可能會導(dǎo)致較高的開關(guān)損耗。未來的發(fā)展將促使制造商在保持低導(dǎo)通電阻的同時,進一步優(yōu)化MOSFET的柵極電荷(Qg)和輸出電容(Coss),以適應(yīng)更高的開關(guān)頻率。這可能涉及到更精細(xì)的工藝技術(shù)和新的器件結(jié)構(gòu)設(shè)計。

  智能電力電子: 結(jié)合傳感器、通信和人工智能算法,使電力電子系統(tǒng)能夠自適應(yīng)、自診斷和自優(yōu)化。

  對IRF3710的影響: 盡管IRF3710本身是分立器件,但作為智能電力電子系統(tǒng)的執(zhí)行器,其性能和可靠性至關(guān)重要。未來,IRF3710的應(yīng)用可能會受益于更智能的柵極驅(qū)動器,這些驅(qū)動器能夠根據(jù)負(fù)載和溫度條件動態(tài)調(diào)整驅(qū)動波形,從而進一步優(yōu)化效率和可靠性。例如,通過實時監(jiān)測IRF3710的溫度,可以動態(tài)調(diào)整PWM占空比或開關(guān)頻率,以防止器件過熱。

  總而言之,盡管寬禁帶半導(dǎo)體等新興技術(shù)在不斷挑戰(zhàn)硅基MOSFET的市場地位,但I(xiàn)RF3710在特定的低壓大電流應(yīng)用中仍具有強大的競爭力。未來的發(fā)展將主要集中在其效率、功率密度和可靠性的持續(xù)優(yōu)化上,并可能通過更先進的封裝、集成化解決方案以及與智能控制技術(shù)的結(jié)合來拓展其應(yīng)用領(lǐng)域。制造商將繼續(xù)通過工藝改進來降低其導(dǎo)通電阻和開關(guān)損耗,以保持其在特定細(xì)分市場的領(lǐng)先地位。同時,設(shè)計師也需要不斷更新知識,權(quán)衡不同技術(shù)路線的優(yōu)缺點,以做出最符合項目需求的選擇。

  十、 總結(jié)

  IRF3710作為一款性能卓越的N溝道功率MOSFET,憑借其低導(dǎo)通電阻、高電流處理能力和出色的雪崩能量承受能力,在汽車電子、直流電機控制、開關(guān)電源、逆變器和電池管理系統(tǒng)等低壓大電流應(yīng)用領(lǐng)域占據(jù)著重要地位。本文從引腳定義、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、電氣特性、典型應(yīng)用電路到詳細(xì)的設(shè)計注意事項,對其進行了全面深入的剖析。

  正確的引腳接線是其穩(wěn)定工作的基礎(chǔ),柵極、漏極和源極各司其職,共同構(gòu)成了電流的控制和流通路徑。理解其P型襯底、N型漏源區(qū)、柵極氧化層和體二極管等內(nèi)部結(jié)構(gòu),有助于深入掌握其工作原理和寄生效應(yīng)。各項電氣特性參數(shù),如VDSS、ID、$R_{DS(on)}$和柵極電荷等,是電路設(shè)計和器件選型的關(guān)鍵依據(jù)。通過合理的柵極驅(qū)動設(shè)計、高效的散熱方案、完善的去耦與保護電路,以及精心的PCB布局布線,可以最大程度地發(fā)揮IRF3710的性能潛力,確保電路的效率、穩(wěn)定性和可靠性。

  雖然面臨著碳化硅和氮化鎵等寬禁帶半導(dǎo)體器件的挑戰(zhàn),但I(xiàn)RF3710在成本效益、成熟度和特定低壓應(yīng)用領(lǐng)域仍具有不可替代的優(yōu)勢。未來的發(fā)展將促使硅基MOSFET在封裝技術(shù)、集成度以及與智能控制的結(jié)合方面不斷創(chuàng)新,以滿足日益增長的功率密度和效率需求。

  對于任何希望在電源管理和電機控制領(lǐng)域取得成功的工程師而言,深入理解和熟練應(yīng)用IRF3710等核心功率器件,無疑是構(gòu)建高效、可靠電子系統(tǒng)的基石。通過本文的詳細(xì)介紹,希望能為讀者提供一份全面的參考,助您在實際工程實踐中游刃有余,設(shè)計出更加優(yōu)秀的電力電子產(chǎn)品。

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