原標題：安立、泰克、GRL三方聯(lián)合，測試專家同臺演繹高速接口演進與測試大戲

安立、泰克、GRL三方聯(lián)合，測試專家同臺演繹高速接口演進與測試大戲的事件，展現(xiàn)了這三家公司在高速接口測試領域的深厚實力和緊密合作。以下是對這一事件的詳細歸納：

一、合作背景與目的

• 背景：數(shù)據(jù)傳輸需求的不斷提升，加快了數(shù)據(jù)接口換代進程。應用于服務器/存儲的PCIe接口正從PCIe3.0向PCIe4.0和5.0過渡，PCIe6.0的規(guī)范也在制定中；同時，應用于消費電子的USB/DP/TBT等接口也在不斷的進化和融合。

• 目的：分享高速接口測試的經(jīng)驗，提升高速接口的信號完整性能力，為高速接口標準提出建設性的建議。

二、合作公司與專家介紹

• 安立：誤碼儀/矢量網(wǎng)絡分析儀供應商，擁有豐富的高速接口測試經(jīng)驗。

• 代表人物：業(yè)務拓展經(jīng)理趙雁飛、應用工程師范鐸。

• 泰克：實時示波器供應商，在高速接口測試領域具有顯著優(yōu)勢。

• 代表人物：PCI-SIG協(xié)會專家David、中國區(qū)資深工程師曹福享。

• GRL：校準和測試軟件供應商，專注于高速接口的認證測試。

• 代表人物：產(chǎn)品方案總監(jiān)陳昀。

三、會議內(nèi)容與分享

• PCIe發(fā)展更新：泰克PCI-SIG協(xié)會專家David分享了PCIe發(fā)展的最新信息以及包括SNDR等的一些測試要點。

• USB/DP/TBT融合演進：GRL產(chǎn)品方案總監(jiān)陳昀介紹了USB/DP/TBT的融合演進以及最新認證測試的要求和流程。

• PCIe5.0與USB/DP/TBT測試方案：泰克中國區(qū)的資深工程師曹福享結合泰克的高性能示波器，分享了PCIe5.0發(fā)端的測試區(qū)別、測試要點以及USB/DP/TBT發(fā)端的測試方案。

• PCIe收端與USB/TBT和DP測試方案：安立應用工程師范鐸結合自身在測試方面的豐富經(jīng)驗，重點介紹了PCIe的收端測試要求以及USB/TBT和DP的測試方案。

四、會議成果與影響

• 會議成果：會議持續(xù)了近兩個小時，100多位專業(yè)人士參與了本次會議并積極提問交流。為了感謝各位的參與，Anritsu公司（安立）會后提供了參與問卷調查的抽獎獎品，同時本次演講的視頻也放到了三家的微信公眾號上供大家會后觀看。

• 行業(yè)影響：自合作以來，安立、泰克和GRL三方各自發(fā)揮自己的優(yōu)勢，在高速接口市場上取得了積極的進展。后續(xù)三方會繼續(xù)努力，在高速接口測試市場為大家提供更為高效和及時的測試方案和測試服務。

綜上所述，安立、泰克、GRL三方聯(lián)合舉辦的高速接口測試活動是一次成功的行業(yè)盛會，不僅展示了三家公司在高速接口測試領域的深厚實力，也為行業(yè)內(nèi)的專業(yè)人士提供了一個交流和學習的平臺。