650V 60mΩ SiC MOSFET高溫性能測試對比,國產器件重載時溫度更低


原標題:650V 60mΩ SiC MOSFET高溫性能測試對比,國產器件重載時溫度更低
關于650V 60mΩ SiC MOSFET高溫性能測試對比,國產器件在重載時溫度更低的現(xiàn)象,可以從以下幾個方面進行詳細分析:
一、測試背景與目的
650V 60mΩ SiC MOSFET作為一種高性能的功率半導體器件,廣泛應用于光伏和儲能、驅動、電動汽車及充電樁、UPS、電源等領域。隨著電動汽車市場的快速增長(據(jù)HIS報告,電動汽車充電市場的增長將非常強勁,高達59%),對SiC MOSFET的需求也在不斷增加。為了驗證國產SiC MOSFET在高溫重載條件下的性能表現(xiàn),國內廠商如派恩杰半導體等進行了相關的高溫性能測試對比。
二、測試平臺與方法
派恩杰半導體采用自主設計的Buck-Boost效率測試平臺對650V 60mΩ SiC MOSFET進行了高溫性能對比測試。該測試平臺用于650V/1200V TO247-4 分立SiC MOSFET的開環(huán)功率實驗、器件系統(tǒng)效率和溫升性能測試、雙脈沖測試以及電池充放電系統(tǒng)。測試平臺最大輸入電壓可達800Vdc,輸出400Vdc,可工作在Buck模式或者Boost模式。
三、測試結果分析
在測試中,派恩杰半導體選擇了其650V 60mΩ產品P3M06060K4與某國際知名品牌(C品牌)的4pin 650V 60mΩ SiC MOSFET進行對比。測試結果顯示,在高溫重載條件下,國產P3M06060K4器件表現(xiàn)出更優(yōu)的性能:
溫度表現(xiàn):
在100kHz條件下,當輸出功率達到4kW時,P3M06060K4器件的溫度為86℃,而C品牌器件的溫度為96℃。隨著功率的增加,P3M06060K4器件在更高功率(如4.7kW)下才達到100℃的溫度,而C品牌器件的溫度始終保持在96℃左右。
在65kHz條件下,類似的結果也被觀察到。在4.3kW時,P3M06060K4器件的溫度為80℃,而C品牌器件的溫度達到102℃。當功率增加到5kW時,P3M06060K4器件的溫度才接近100℃。
效率表現(xiàn):
在輕載時,兩款器件的效率基本一致,均達到99%。但在重載時,P3M06060K4器件的效率更高。
四、原因分析
P3M06060K4器件在高溫重載條件下表現(xiàn)出更優(yōu)的性能,主要得益于其較低的導通電阻(Rdson)隨溫度變化的特性。在高溫下,P3M06060K4器件的導通損耗更小,從而減少了熱量的產生和溫度的上升。
五、結論
綜上所述,國產650V 60mΩ SiC MOSFET在高溫重載條件下表現(xiàn)出更低的溫度和更高的效率,這證明了國產SiC MOSFET在性能上已經達到甚至超過了國際一流水平。隨著技術的不斷進步和市場的擴大,國產SiC MOSFET有望在更多領域得到廣泛應用。
責任編輯:David
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