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如何將CoolMOS應用于連續(xù)導通模式的圖騰柱功率因數(shù)校正電路

來源: 中電網(wǎng)
2021-10-26
類別:技術(shù)信息
eye 10
文章創(chuàng)建人 拍明

原標題:如何將CoolMOS應用于連續(xù)導通模式的圖騰柱功率因數(shù)校正電路

將CoolMOS應用于連續(xù)導通模式(CCM)的圖騰柱功率因數(shù)校正(PFC)電路,需要關(guān)注幾個關(guān)鍵方面,包括電路設計、開關(guān)損耗優(yōu)化、以及可能的預充電電路等。以下是將CoolMOS應用于此類電路的具體步驟和考慮因素:

1. 圖騰柱PFC電路基礎

圖騰柱PFC電路是一種高效的AC-DC轉(zhuǎn)換拓撲,它消除了傳統(tǒng)PFC電路中的二極管橋,通過有源開關(guān)(如MOSFET)來控制電流的流向,從而實現(xiàn)高功率因數(shù)和低諧波失真。在CCM模式下,電感電流在整個周期內(nèi)都保持連續(xù),MOSFET需要在電感電流降至零之前開通。

2. CoolMOS的選擇與特性

CoolMOS是一種高性能的MOSFET,以其低導通電阻和低開關(guān)損耗而著稱。在圖騰柱PFC電路中,選擇具有合適電壓和電流等級的CoolMOS至關(guān)重要。此外,還需要考慮其開關(guān)特性,如輸出電容(Coss)、反向恢復電荷等,這些特性將直接影響電路的效率和性能。

3. 電路設計與優(yōu)化

3.1 開關(guān)損耗優(yōu)化

  • 降低硬切損耗:在圖騰柱PFC電路中,高頻橋臂在切換過程中可能產(chǎn)生硬切損耗。為了減少這種損耗,可以采用具有低Coss特性的CoolMOS,并通過優(yōu)化電路布局和PCB設計來降低寄生電感。

  • 預充電電路:為克服硬切損耗和寄生二極管的反向恢復損耗,可以引入預充電電路。該電路可以在MOSFET通道開啟前將其預充至特定電壓,從而降低開關(guān)瞬間的損耗。預充電電路需要額外的器件(如高壓肖特基二極管和低壓MOSFET)以及電壓源來驅(qū)動。

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3.2 控制器與驅(qū)動

  • 選擇合適的PFC控制器,如安森美的NCP1681 PFC控制器,它支持圖騰柱CCM與多模式操作,并具備高效的電流檢測和電壓環(huán)路補償功能。

  • 設計合適的驅(qū)動電路,以確保MOSFET能夠準確、快速地開關(guān)。驅(qū)動電路需要考慮PWM信號的時序和電平匹配問題。

4. 布局與散熱

  • PCB布局:優(yōu)化PCB布局以減少寄生電感和電容的影響。確保高頻信號路徑短且遠離敏感元件。

  • 散熱設計:CoolMOS在高頻開關(guān)過程中會產(chǎn)生熱量,因此需要進行合理的散熱設計??梢允褂蒙崞?、風扇或熱管等散熱元件來降低MOSFET的工作溫度。

5. 調(diào)試與測試

  • 在完成電路設計和布局后,進行詳細的調(diào)試和測試。測試內(nèi)容包括但不限于輸入電壓與電流波形、功率因數(shù)、效率以及開關(guān)損耗等。

  • 根據(jù)測試結(jié)果對電路進行必要的調(diào)整和優(yōu)化,以確保其性能達到預期目標。

結(jié)論

將CoolMOS應用于連續(xù)導通模式的圖騰柱功率因數(shù)校正電路需要綜合考慮多個方面,包括電路設計、開關(guān)損耗優(yōu)化、控制器與驅(qū)動、布局與散熱以及調(diào)試與測試等。通過合理的選擇和配置,可以充分發(fā)揮CoolMOS的性能優(yōu)勢,實現(xiàn)高效的AC-DC轉(zhuǎn)換。


責任編輯:David

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