原標題：適用于工業(yè)應用的 NAND 閃存

史密斯英特康推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin彈簧探針技術，在半導體測試領域具有顯著的優(yōu)勢和廣泛的應用。以下是對該技術的詳細解析：

一、技術概述

史密斯英特康作為全球領先的關鍵半導體測試應用創(chuàng)新解決方案的供應商，其最新推出的Kelvin彈簧探針技術，專為低至0.35毫米間距的Kelvin測試應用設計。該技術通過創(chuàng)新的鑿尖設計和專有的均質合金優(yōu)化，提供了穩(wěn)健、易于維護、長壽命的測試解決方案。

二、技術特點

1. 獨特的鑿尖設計：

• Kelvin探針的獨特鑿尖設計能夠在設備焊接點上實現(xiàn)更緊密的中心接觸，最低可達0.125毫米（另一說法為0.25毫米），這大大提升了測試的準確性和可靠性。

• 這種設計特別適用于物聯(lián)網(wǎng)、移動、互聯(lián)網(wǎng)和汽車芯片等關鍵應用測試，為這些領域提供了可靠、穩(wěn)定的接觸電阻。

2. 高精度測量：

• Kelvin測試是一種通過高分辨率測量來確定電阻有限變化的方法。Kelvin探針通過與載流元件或測試選點的精密電接觸，可消除或大大降低接觸電阻的影響，從而實現(xiàn)更精確的測量。

• 這在處理用于大電流測試的低毫伏參考電壓時尤為重要，確保了測試結果的準確性和可靠性。

3. 長壽命與耐用性：

• 為了增加探針的使用壽命，Kelvin探針采用了Smiths Interconnect專有的均質合金進行優(yōu)化。這種合金不僅提高了探針的耐用性，還延長了其使用壽命，為量產(chǎn)測試提供了可靠的解決方案。

1. 廣泛適用性：

• Kelvin探針頭設計適用于標準陣列測試插座或晶圓級別探針頭（如Volta WLCSP），為不同類型的測試需求提供了靈活的選擇。

• 該技術涵蓋了0.35毫米及以上的芯片器件引腳間距，滿足了多種測試場景的需求。

2. 易于維護：

• Kelvin探針的設計考慮到了易用性和維護性，提供了穩(wěn)健、易于維護的測試解決方案。這降低了維護成本和時間，提高了測試效率。

三、應用領域

Kelvin彈簧探針技術廣泛應用于物聯(lián)網(wǎng)、移動、互聯(lián)網(wǎng)和汽車芯片等關鍵領域的測試。其獨特的鑿尖設計和高精度測量能力，為這些領域的測試提供了可靠、穩(wěn)定的接觸電阻和精準的測量性能。

四、總結

史密斯英特康推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin彈簧探針技術，憑借其獨特的鑿尖設計、高精度測量能力、長壽命與耐用性以及廣泛適用性等特點，在半導體測試領域展現(xiàn)出了強大的競爭力和廣泛的應用前景。該技術不僅提升了測試的準確性和可靠性，還為不同領域的測試需求提供了靈活、高效的解決方案。