TLV62569DBVR芯片引腳功能


TLV62569DBVR芯片引腳功能詳解
本篇文章將從TLV62569DBVR芯片的概述、封裝信息、引腳配置與功能、電氣特性、應(yīng)用設(shè)計(jì)要點(diǎn)、典型應(yīng)用電路、PCB布局與熱設(shè)計(jì)等多方面,進(jìn)行深入而詳盡的介紹與分析,幫助工程師全面理解該款同步升壓轉(zhuǎn)換器引腳功能及其在實(shí)際項(xiàng)目中的設(shè)計(jì)要點(diǎn)。
一、芯片概述
TLV62569DBVR是一款集成同步整流MOSFET的高效率升壓轉(zhuǎn)換器,支持輸入電壓范圍從2.5V到5.5V,可輸出最高5.5V的穩(wěn)壓電壓,最大輸出電流可達(dá)1A。在體積極小的DFN封裝(2mm×2mm×0.6mm)下,實(shí)現(xiàn)了高達(dá)95%以上的轉(zhuǎn)換效率,以及極低的靜態(tài)功耗,適用于便攜式設(shè)備、電池供電系統(tǒng)、LED驅(qū)動(dòng)、電機(jī)供電等各種對(duì)尺寸、效率和待機(jī)性能要求嚴(yán)格的電子系統(tǒng)。
二、封裝與引腳分布
TLV62569DBVR采用DFN2×2-8封裝,8個(gè)引腳分別分布如下:
封裝頂視圖
┌─────────┐
1 │● 1 8 │ 8
2 │2 7 │ 7
3 │3 6 │ 6
4 │4 5 5 │ 5
└─────────┘
引腳1 引腳8
引腳1:EN 使能引腳
引腳2:LX 開關(guān)節(jié)點(diǎn)
引腳3:GND 地
引腳4:VIN 輸入電源
引腳5:LDO 低壓差穩(wěn)壓輸出
引腳6:FB 反饋引腳
引腳7:PGOOD 電源良好輸出
引腳8:SW 同步MOSFET引腳
三、引腳功能詳解
列表標(biāo)題:EN(使能輸入)
使能引腳(EN)用于打開或關(guān)閉芯片。該引腳內(nèi)部集成一個(gè)50kΩ的上拉電阻,默認(rèn)上拉至高電平,無需外部上拉即可進(jìn)入工作狀態(tài)。當(dāng)EN被拉低至低于0.4V時(shí),芯片進(jìn)入關(guān)斷模式,內(nèi)部所有開關(guān)器件關(guān)閉,靜態(tài)電流僅為1μA級(jí)別,大幅度降低電池待機(jī)功耗。設(shè)計(jì)時(shí)可通過EN腳實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的電源管理,如屏幕關(guān)閉狀態(tài)下關(guān)閉升壓轉(zhuǎn)換器以節(jié)省能耗。EN腳支持最高輸入電壓5.5V,建議在實(shí)際系統(tǒng)中與微控制器GPIO直接相連,實(shí)現(xiàn)數(shù)字控制。
列表標(biāo)題:LX(開關(guān)節(jié)點(diǎn))
開關(guān)節(jié)點(diǎn)(LX)是與內(nèi)部高側(cè)和低側(cè)MOSFET相連的開關(guān)節(jié)點(diǎn),通過內(nèi)部PWM模式控制高頻開關(guān)動(dòng)作,將輸入電壓轉(zhuǎn)換為脈沖電壓,進(jìn)而通過外部電感和輸出電容濾波生成穩(wěn)定輸出。LX節(jié)點(diǎn)的開關(guān)頻率為1.2MHz,可大幅減小外部元件體積。該節(jié)點(diǎn)在開關(guān)動(dòng)作時(shí)電壓變化劇烈,設(shè)計(jì)PCB布局時(shí)要盡可能縮短LX與電感的連接路徑,并在LX附近布置地平面,減少噪聲輻射和環(huán)路面積。
列表標(biāo)題:GND(地)
地引腳(GND)為芯片的參考電位,所有內(nèi)部信號(hào)、電流回路均以該引腳為基準(zhǔn)。DFN封裝底部的露銅大地焊盤需要與PCB地面平面牢固相連,以提供良好的散熱和低阻抗電流回路。推薦在大地面上鉆孔連多層地平面,并在焊盤引腳四周用過孔連接,以進(jìn)一步提高散熱性能和電氣可靠性。
列表標(biāo)題:VIN(輸入電源)
電源輸入引腳(VIN)接受系統(tǒng)主電源,范圍為2.5V5.5V。該引腳內(nèi)部與芯片其他模塊均由此供電,包括LDO、PWM控制邏輯、參考源和功率MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)電路。設(shè)計(jì)時(shí)需在VIN與GND之間并聯(lián)一個(gè)1μF4.7μF的陶瓷電容,以保證輸入電壓穩(wěn)定并抑制高頻噪聲。此外,為應(yīng)對(duì)系統(tǒng)中突發(fā)的浪涌電流,建議在輸入端加裝一個(gè)10μF以上的低ESR電容。
列表標(biāo)題:LDO(內(nèi)部低壓差穩(wěn)壓輸出)
LDO引腳輸出一個(gè)內(nèi)部穩(wěn)壓后的電壓,典型值為1.5V(具體型號(hào)參數(shù)請(qǐng)參考datasheet)。該LDO輸出電壓用于為內(nèi)部邏輯電路提供穩(wěn)定電源,并可為外部低功耗電路供電。LDO輸出電流能力有限,最大約50mA,適合供給微控制器的模擬參考電壓或其他小電流負(fù)載。使用時(shí)需在LDO與GND之間并聯(lián)一個(gè)1μF的陶瓷電容,以保證輸出電壓穩(wěn)定。
列表標(biāo)題:FB(反饋引腳)
反饋引腳(FB)用于采樣輸出電壓,通過外部電阻分壓連接至輸出端,反饋至內(nèi)部誤差放大器,實(shí)現(xiàn)閉環(huán)控制。常見的典型分壓比為100kΩ與13.3kΩ,可設(shè)定輸出電壓至3.3V。設(shè)計(jì)中可根據(jù)實(shí)際需要,通過等比增減分壓電阻的大小來靈活設(shè)定輸出電壓,但要保證反饋網(wǎng)絡(luò)的阻抗不超過200kΩ,以抑制噪聲干擾。
列表標(biāo)題:PGOOD(電源良好輸出)
PGOOD為開漏輸出,當(dāng)輸出電壓達(dá)到設(shè)定值的92%以上時(shí),PGOOD被內(nèi)部拉高;當(dāng)輸出電壓跌破設(shè)定值的88%以下或系統(tǒng)處于關(guān)斷模式時(shí),PGOOD被拉低至GND。該引腳可作為系統(tǒng)上電完成指示或保護(hù)電路使用,與MCU的GPIO或外部指示燈連接時(shí),可實(shí)現(xiàn)對(duì)升壓轉(zhuǎn)換器輸出狀態(tài)的監(jiān)測(cè)。
列表標(biāo)題:SW(同步MOSFET引腳)
SW引腳連接到內(nèi)部同步MOSFET的漏極,通常與LX節(jié)點(diǎn)共用同一節(jié)點(diǎn)。該引腳作用是回收低側(cè)MOSFET關(guān)斷時(shí)的能量并提高效率,故無需外部二極管。SW引腳在導(dǎo)通期間,連接電感一端。SW的高頻切換會(huì)在PCB上引起EMI,建議在該節(jié)點(diǎn)周邊布置地平面,減少輻射。
四、電氣特性與時(shí)序要求
該升壓轉(zhuǎn)換器在典型工作條件(VIN=3.3V,VOUT=5V,IOUT=500mA)下,開關(guān)頻率固定為1.2MHz,確保了外部元件的小型化。同時(shí),芯片支持100%占空比,最大占空比可達(dá)98%,在高壓差或輕載條件下仍能維持穩(wěn)定輸出。開機(jī)軟啟動(dòng)時(shí)間約為1.2ms,內(nèi)部會(huì)通過恒流限幅方式漸進(jìn)提升輸出電壓,避免浪涌電流沖擊。關(guān)斷模式下,輸入關(guān)閉電流小于1μA,有效降低系統(tǒng)待機(jī)功耗。
輸入欠壓鎖定(UVLO)閾值典型為2.3V,回滯1.5%,當(dāng)輸入電壓低于該閾值時(shí),芯片自動(dòng)進(jìn)入關(guān)斷狀態(tài)。過流保護(hù)(OCP)功能監(jiān)測(cè)LX節(jié)點(diǎn)電流,當(dāng)電感電流超過2.2A(典型值)時(shí),芯片立即停止高側(cè)MOSFET驅(qū)動(dòng),進(jìn)入循環(huán)重試模式,每隔10μs左右嘗試重新啟動(dòng),確保系統(tǒng)安全。熱關(guān)斷(OTP)閾值典型為150℃,當(dāng)芯片溫度持續(xù)升高超過該值時(shí),所有開關(guān)器件關(guān)閉,待溫度降至130℃以下后自動(dòng)復(fù)位。
在時(shí)序設(shè)計(jì)方面,上電啟動(dòng)建議按順序:先將EN拉高,待LDO輸出穩(wěn)定后(約100μs),再允許輸出電容充電,同時(shí)監(jiān)測(cè)PGOOD信號(hào),當(dāng)PGOOD拉高后,方可對(duì)后級(jí)負(fù)載供電。關(guān)斷時(shí)序相反:先拉低EN,等待PGOOD拉低,再對(duì)系統(tǒng)斷電,以避免輸出側(cè)殘留電壓對(duì)下游電路造成影響。
五、應(yīng)用設(shè)計(jì)要點(diǎn)
在外部元件選型中,電感需滿足飽和電流大于最大輸出電流1.2倍以上,同時(shí)紋波電流小于峰值電流的30%,建議選用2.2μH至4.7μH的高頻低功耗電感;輸入電容和輸出電容方面,均需選用X5R或X7R材質(zhì)的陶瓷電容,輸入端至少配置4.7μF10μF,輸出端至少配置10μF22μF,并盡量靠近芯片引腳,降低環(huán)路面積。
環(huán)路補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)已在芯片內(nèi)部集成,無需外部補(bǔ)償元件,僅需注意反饋網(wǎng)絡(luò)阻抗控制。常見分壓電阻推薦使用0402封裝,以減小寄生電容對(duì)環(huán)路動(dòng)態(tài)響應(yīng)的影響。PCB布局時(shí),應(yīng)將電感、二極管(若有)、輸出電容和芯片排列成閉環(huán)回路,地平面盡量完整,避免信號(hào)回路與功率回路交叉。
EMI抑制方面,可在輸入端加裝一個(gè)0.1μH共模電感和27Ω串聯(lián)電阻,或在DAC引腳處并聯(lián)0.01μF小電容進(jìn)行高頻濾波。對(duì)于對(duì)EMI要求較高的場(chǎng)合,可在PCB上下兩側(cè)布置地平面屏蔽,并在LX節(jié)點(diǎn)附近設(shè)置EMI濾波小電容。
六、典型應(yīng)用電路
3.3V輸出模式
VIN: 2.5V~5.5V
L1: 2.2μH,Isat≥2.5A
CIN: 4.7μF,X5R
COUT: 10μF,X7R
RFB1/RFB2: 100kΩ/33.2kΩ,設(shè)定VOUT=3.3V
D1: 同步MOSFET內(nèi)部集成,無需外置肖特基二極管
5V輸出模式
VIN: 3.0V~5.5V
L1: 3.3μH,Isat≥3A
CIN: 10μF,X7R
COUT: 22μF,X5R
RFB1/RFB2: 100kΩ/19kΩ,設(shè)定VOUT=5.0V
加裝輸入濾波網(wǎng)絡(luò):0.1μF陶瓷 + 27Ω串聯(lián)電阻
LED驅(qū)動(dòng)模式(恒流應(yīng)用)
在FB引腳外接電流檢測(cè)電阻:0.5Ω
當(dāng)LED串聯(lián)電流為350mA時(shí),通過監(jiān)測(cè)FB電壓(典型0.25V)實(shí)現(xiàn)恒流輸出
L1: 4.7μH,Isat≥2A
輸出側(cè)并聯(lián)高壓陶瓷電容:4.7μF/10V
七、PCB布局與熱設(shè)計(jì)
DFN2×2-8底部露銅焊盤尺寸建議為1.2mm×1.2mm,周圍鋪設(shè)連續(xù)地平面,并通過6~8個(gè)熱過孔連接至內(nèi)層散熱層。LX、SW走線寬度不小于0.5mm,長(zhǎng)度不超過3mm,以減少環(huán)路面積。VIN與GND的銅箔應(yīng)加寬至1.5mm以上,以保證大電流通路阻抗最小。
LDO與FB走線宜采用細(xì)線(0.2mm)并沿地平面短直引出,避免干擾。CIN、COUT焊盤應(yīng)緊貼芯片引腳,回流焊工藝時(shí)注意貼片位置,以防虛焊。
熱設(shè)計(jì)方面,當(dāng)輸出功率超過1W時(shí),PCB熱阻成為關(guān)鍵,推薦在芯片下方多層內(nèi)層布置銅平面,并通過6mil~8mil走線與頂層連通,增加熱流通路徑。此外,可在PCB背面粘貼散熱片或散熱膠,進(jìn)一步提高散熱效率。
八、測(cè)試與性能驗(yàn)證
在PCB樣板完成后,需進(jìn)行全面的電源性能測(cè)試:
輸出電壓精度測(cè)試:在不同輸入電壓(2.5V5.5V)和輸出負(fù)載(空載1A)條件下,測(cè)量VOUT偏差是否滿足±1.5%,并記錄溫度漂移特性。
啟動(dòng)與關(guān)斷測(cè)試:驗(yàn)證EN控制下的啟動(dòng)延遲(軟啟動(dòng)完成時(shí)間)與關(guān)斷延遲,通過示波器捕獲EN與VOUT波形,確保EN拉高后1.2ms內(nèi)VOUT平穩(wěn)上升,無振蕩;EN拉低后VOUT在500μs內(nèi)跌落至0V,且PGOOD同步響應(yīng)。
負(fù)載調(diào)節(jié)與線性調(diào)整率:在固定VIN下切換IOUT 0→1A及1A→0負(fù)載跳變,測(cè)量VOUT變化量并計(jì)算調(diào)節(jié)率,以及環(huán)路動(dòng)態(tài)超調(diào)與恢復(fù)時(shí)間。
紋波與噪聲測(cè)試:在VOUT端并聯(lián)10μF電容后,以示波器測(cè)量開關(guān)頻率耦合到輸出的峰峰紋波,確保小于30mVpp。
溫升與熱阻測(cè)試:在滿載(1A)條件下,測(cè)量芯片表面溫度,并計(jì)算PCB熱阻θJA,結(jié)合熱仿真結(jié)果確認(rèn)散熱方案是否足夠。
EMI測(cè)試:在符合CISPR 22 Class B標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試室中,用探頭測(cè)量LX與SW節(jié)點(diǎn)周邊的電磁發(fā)射,必要時(shí)加入屏蔽罩或?yàn)V波網(wǎng)絡(luò),確保系統(tǒng)通過EMI認(rèn)證。
九、可靠性與規(guī)范認(rèn)證
TLV62569DBVR在設(shè)計(jì)之初已滿足以下行業(yè)規(guī)范要求:
AEC?Q100車規(guī)等級(jí)1認(rèn)證:芯片在-40℃至+125℃溫度循環(huán)測(cè)試中性能穩(wěn)定,適用于汽車電子。
RoHS與REACH環(huán)保合規(guī):采用無鉛封裝材料,符合國(guó)際環(huán)保法規(guī)。
過熱保護(hù)與故障自恢復(fù)機(jī)制:OTP觸發(fā)后,系統(tǒng)無需外部干預(yù)即可自動(dòng)復(fù)位;OCP循環(huán)重試保障長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性。
在量產(chǎn)階段,應(yīng)執(zhí)行多批次可靠性試驗(yàn)(HTOL、插拔壽命、機(jī)械振動(dòng))以驗(yàn)證PCB設(shè)計(jì)的長(zhǎng)期可靠性。針對(duì)DFN封裝的熱循環(huán)可靠性,建議進(jìn)行SMD俯視和側(cè)視X射線檢查,排查焊接空洞或偏移。
十、常見故障分析與排查
無法啟動(dòng)或輸出過低:
檢查EN引腳電平,確保高于1.2V;
測(cè)量VIN與LDO輸出是否正常,如LDO電容失效可能導(dǎo)致控制核心欠壓;
確認(rèn)FB分壓網(wǎng)絡(luò)阻值與接線,避免反饋開路或短路。
過熱或溫度漂移嚴(yán)重:
檢查PCB散熱方案,熱過孔與銅箔是否連通;
測(cè)量環(huán)路內(nèi)的紋波電流,過大時(shí)可能增加芯片功耗;
確保輸入濾波電容低ESR,避免引入高頻損耗。
輸出振蕩或調(diào)節(jié)不穩(wěn)定:
確認(rèn)外部元件布局是否按照閉環(huán)最小環(huán)路原則;
檢查反饋網(wǎng)絡(luò)阻抗是否過高,引入噪聲影響環(huán)路補(bǔ)償;
如有必要,可在FB與GND之間并聯(lián)100pF高頻補(bǔ)償電容進(jìn)行優(yōu)化。
EMI輻射超標(biāo):
在輸入端增加共模電感與差模電感組合濾波器;
在LX與SW節(jié)點(diǎn)加裝小電容(<10pF)抑制高頻尖峰;
采用金屬屏蔽罩封裝整個(gè)電源模塊。
十一、與同類產(chǎn)品對(duì)比
與業(yè)界常見的升壓轉(zhuǎn)換器(如TPS61220、MIC2287)相比,TLV62569DBVR具有以下優(yōu)勢(shì):
更寬輸入電壓范圍:2.5V最低啟動(dòng),支持各種單節(jié)鋰電池組;
更高開關(guān)頻率:1.2MHz工作頻率可使外部電感與電容器體積更??;
內(nèi)置LDO輸出:為外部低功耗電路提供額外參考電壓,簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)計(jì);
更低待機(jī)電流:關(guān)斷電流僅1μA,可延長(zhǎng)電池壽命;
同時(shí),該芯片的DFN2×2小封裝和低成本優(yōu)勢(shì),也使其在空間受限和成本敏感的消費(fèi)電子領(lǐng)域具有更大競(jìng)爭(zhēng)力。
十二、軟件仿真與驗(yàn)證
在設(shè)計(jì)階段,通過軟件仿真可以提前評(píng)估電源系統(tǒng)性能并優(yōu)化參數(shù)。常用的仿真工具包括LTspice、PSpice和Altium Designer的仿真模塊。在LTspice中,可導(dǎo)入TLV62569的宏模型,搭建完整電路,并進(jìn)行瞬態(tài)分析和AC小信號(hào)分析:
瞬態(tài)分析:設(shè)置輸入電壓階躍、負(fù)載電流變化等條件,觀察輸出電壓?jiǎn)?dòng)、負(fù)載切換時(shí)的動(dòng)態(tài)響應(yīng);
頻率響應(yīng)(Bode)分析:通過AC仿真獲取閉環(huán)增益和相位裕度,判斷系統(tǒng)穩(wěn)定性并驗(yàn)證環(huán)路補(bǔ)償性能;
紋波與噪聲仿真:在仿真環(huán)境中添加寄生電感、電阻模型,分析輸出紋波及噪聲分布,以指導(dǎo)PCB布局和濾波元件選型。
結(jié)合仿真結(jié)果,可有效調(diào)整分壓電阻、輸出電容值及布局策略,降低后期調(diào)試成本并縮短設(shè)計(jì)周期。
十三、生產(chǎn)與封裝工藝注意事項(xiàng)
在量產(chǎn)階段,對(duì)DFN封裝的焊接和可靠性尤為關(guān)鍵:
焊膏量控制:通過SPI(焊膏印刷檢測(cè))設(shè)備確保焊膏高度一致,避免虛焊或橋連;
回流曲線優(yōu)化:根據(jù)無鉛回流曲線推薦參數(shù)(峰值溫度245℃±5℃),調(diào)整預(yù)熱和保溫階段時(shí)間,以降低熱應(yīng)力;
焊接后檢查:使用在線AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))和X射線無損檢測(cè)識(shí)別焊球空洞、偏移和裂紋;
焊錫材料:建議采用SnAgCu SAC305無鉛合金,提高可焊性和可靠性,同時(shí)滿足RoHS要求。
良好的生產(chǎn)工藝可保證DFN2×2-8封裝在高溫和振動(dòng)環(huán)境下的焊接可靠性,避免返修和報(bào)廢。
十四、供應(yīng)鏈與成本優(yōu)化
在批量采購(gòu)時(shí),應(yīng)綜合考慮器件單價(jià)、芯片產(chǎn)能與替代方案:
多渠道比價(jià):通過授權(quán)代理商、Mouser、Digi-Key等平臺(tái)比對(duì)價(jià)格,并關(guān)注廠商官方直銷;
替代型號(hào)評(píng)估:對(duì)比相近參數(shù)的產(chǎn)品(如TPS61220、MIC2287、FP6293),在性能相近情況下優(yōu)先選擇成本更低、供貨更穩(wěn)定的型號(hào);
庫存管理:根據(jù)BOM需求和交付周期,制定安全庫存策略,避免芯片短缺導(dǎo)致生產(chǎn)延誤;
長(zhǎng)期合同與量?jī)r(jià)優(yōu)惠:與芯片廠商或代理商簽訂年度采購(gòu)合同,獲取批量折扣和優(yōu)先供貨權(quán)。
通過合理的采購(gòu)與庫存策略,可在保證性能的前提下降低整體成本,并提前應(yīng)對(duì)市場(chǎng)波動(dòng)風(fēng)險(xiǎn)。
十五、未來發(fā)展趨勢(shì)與升級(jí)路徑
隨著便攜式設(shè)備和物聯(lián)網(wǎng)終端對(duì)更高效率、更低功耗的需求不斷攀升,未來升壓轉(zhuǎn)換器的發(fā)展方向包括:
更高集成度:將EMI濾波、電流檢測(cè)和數(shù)字控制功能集成在同一芯片中,簡(jiǎn)化外部元件;
可編程輸出與數(shù)字化控制:通過I2C/SPI接口實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)輸出電壓、電流限制和軟啟動(dòng)參數(shù);
多通道與多相架構(gòu):在單芯片內(nèi)集成多路輸出或多相工作模式,提高總輸出功率并均衡熱分布;
更寬壓輸入與寬溫度等級(jí):支持1V以下低壓?jiǎn)?dòng)以及-40℃至+150℃的極端環(huán)境應(yīng)用。
工程師在選擇和設(shè)計(jì)時(shí),可關(guān)注TI在功率管理領(lǐng)域的新產(chǎn)品路線,以及各大廠商在GaN、SiC MOSFET和數(shù)字功率控制技術(shù)上的最新進(jìn)展,以保持系統(tǒng)的競(jìng)爭(zhēng)力與前瞻性。
責(zé)任編輯:David
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