原標(biāo)題：EMI標(biāo)準(zhǔn)介紹，第2部分 – 輻射干擾

EMI（Electromagnetic Interference，電磁干擾）標(biāo)準(zhǔn)中的輻射干擾部分，是電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。輻射干擾指的是干擾源通過(guò)空間把其信號(hào)耦合（干擾）到另一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)或電子設(shè)備。以下是對(duì)EMI標(biāo)準(zhǔn)中輻射干擾部分的詳細(xì)介紹：

一、輻射干擾的定義與分類(lèi)

輻射干擾是電磁干擾的一種形式，它主要通過(guò)空間傳播，影響其他電子設(shè)備或系統(tǒng)的正常工作。輻射干擾源可以是電子設(shè)備本身，也可以是外部環(huán)境中的其他電磁源。

二、輻射干擾的評(píng)估與測(cè)量

1. 測(cè)量要求：

• 頻率范圍：輻射干擾的測(cè)量頻率范圍通常很廣，例如從低頻（如30kHz）到高頻（如1GHz或更高）。

• 測(cè)量距離：輻射干擾的測(cè)量距離根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)不同而有所差異，常見(jiàn)的有3米和10米兩種。

• 檢測(cè)器類(lèi)型：常用的檢測(cè)器包括準(zhǔn)峰值（QPK）和平均值（AVG）檢測(cè)器，以及峰值（PK）檢測(cè)器。

2. 測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)：

• 歐洲：EN 55022是歐盟針對(duì)信息技術(shù)設(shè)備（ITE）的電源產(chǎn)品的知名標(biāo)準(zhǔn)。

• 美國(guó)：FCC Part 15 B是美國(guó)針對(duì)無(wú)意輻射器的EMI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，其中RE（輻射干擾）的測(cè)試頻率范圍為30MHz~1GHz。

• 臺(tái)灣：CNS 13438是臺(tái)灣的EMI參考測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

• CISPR系列標(biāo)準(zhǔn)：如CISPR 16、CISPR 22/32等，這些標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了輻射干擾的測(cè)量方法、限值和測(cè)試設(shè)備。

• CISPR 12：保護(hù)遠(yuǎn)離車(chē)輛的無(wú)線電接收，是一種整車(chē)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

• CISPR 25：保護(hù)車(chē)輛中的無(wú)線電接收，定義了各種無(wú)線電服務(wù)頻段中的限制等級(jí)。

• 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• 地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)：

3. 測(cè)量設(shè)備：

• 輻射干擾的測(cè)量需要使用天線、EMI接收機(jī)和相應(yīng)的測(cè)試軟件。天線類(lèi)型包括雙錐天線、對(duì)數(shù)周期天線和寬帶天線等，根據(jù)測(cè)試頻率和極化要求選擇合適的天線。

  
  

三、輻射干擾的限制與合規(guī)

1. 限制水平：

• 不同標(biāo)準(zhǔn)和地區(qū)對(duì)輻射干擾的限制水平有所不同，但通常都規(guī)定了在不同頻率范圍內(nèi)的最大允許輻射水平。

• 例如，F(xiàn)CC Part 15 B標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了A類(lèi)和B類(lèi)設(shè)備的輻射限制，其中B類(lèi)（家庭應(yīng)用）的限制比A類(lèi)（商業(yè)用途）低6dB到10dB。

2. 合規(guī)性測(cè)試：

• 制造商需要通過(guò)合規(guī)性測(cè)試來(lái)驗(yàn)證其產(chǎn)品是否符合相關(guān)的EMI標(biāo)準(zhǔn)。

• 測(cè)試通常在專(zhuān)門(mén)的測(cè)試場(chǎng)地進(jìn)行，使用符合標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備和方法進(jìn)行。

四、輻射干擾的控制與減少

1. 設(shè)計(jì)優(yōu)化：

• 通過(guò)優(yōu)化電路板布局、組件放置和電源設(shè)計(jì)來(lái)減少輻射干擾的產(chǎn)生。

• 使用屏蔽技術(shù)、濾波器和接地技術(shù)等手段來(lái)降低輻射干擾的影響。

2. 測(cè)試與驗(yàn)證：

• 在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的各個(gè)階段進(jìn)行輻射干擾測(cè)試，及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決問(wèn)題。

• 使用現(xiàn)代測(cè)試設(shè)備和技術(shù)來(lái)提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和效率。

綜上所述，EMI標(biāo)準(zhǔn)中的輻射干擾部分是電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試中的重要內(nèi)容。了解并遵守相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于確保產(chǎn)品的電磁兼容性、保護(hù)用戶和其他設(shè)備的安全具有重要意義。