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電容器C4和C5彼此串聯(lián)放置無浮動節(jié)點
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作者： 約翰·鄧恩
下面的示意圖是 LinkedIn 群組的屏幕截圖。當我看到它時，我的腦海里響起了警鐘(圖1)。
圖 1在 LinkedIn 群組中發(fā)現(xiàn)的建議應用筆記圖，其中 C4 和 C5 之間存在可能導致電壓擊穿的浮動節(jié)點。
電容器 C4 和 C5 彼此串聯(lián)放置，以便它們的公共節(jié)點沒有到達任何地方的直流路徑。當我從事一些航天器項目時，這絕對是被禁止的事情，因為任何像這樣的浮動節(jié)點都可能漂移到不確定的高電壓并導致電壓擊穿。
即使在地球環(huán)境中，這也可能是一個問題。想象一下在雷暴環(huán)境中使用或僅僅運輸或裝運某物。弗蘭肯斯坦博士的閃電可能會造成一些真正的傷害。
我不知道為什么在上面的原理圖中，C4 和 C5 的串聯(lián)對不是簡單地制成單個 0.5 pF 電容。
讓某些東西漂浮的基本缺點之前已經(jīng)在“設計預防措施：不讓任何東西漂浮”中討論過。
看來有人沒有收到消息。
John Dunn是一名電子顧問，畢業(yè)于布魯克林理工學院 (BSEE) 和紐約大學 (MSEE)。
責任編輯：David
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