東芝推出新款碳化硅MOSFET模塊,有助于提升工業(yè)設(shè)備效率和小型化


原標題:東芝推出新款碳化硅MOSFET模塊,有助于提升工業(yè)設(shè)備效率和小型化
東芝推出的新款碳化硅(SiC)MOSFET模塊,在提升工業(yè)設(shè)備效率和小型化方面取得了顯著進展。以下是對該新款碳化硅MOSFET模塊的詳細介紹:
一、產(chǎn)品背景與特點
東芝作為半導體和存儲解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商,一直致力于為工業(yè)應(yīng)用提供高性能的功率器件。此次推出的新款碳化硅MOSFET模塊,是東芝在碳化硅技術(shù)領(lǐng)域的又一重要突破。該模塊具有低導通電阻、低開關(guān)損耗和高擊穿電壓等特點,特別適用于需要高效率和小型化的工業(yè)設(shè)備。
二、產(chǎn)品規(guī)格與性能
額定電壓與電流:
漏源電壓(VDSS)額定值為2200V(部分產(chǎn)品如TWxxNxxxC系列可能具有不同的額定電壓,如1200V或650V)。
可支持漏端電流(continuous drain current)高達250A(具體數(shù)值可能因產(chǎn)品型號而異)。
漏極電流(脈沖)(IDP)可達500A。
隔離電壓與工作溫度:
隔離電壓(Visol)為4000Vrms。
器件可在高達150℃的通道溫度(Tch)下工作。
傳導損耗與開關(guān)損耗:
傳導損耗較低,漏極-源極導通電壓(VDS(on)sense)僅為0.7V(具體數(shù)值可能因產(chǎn)品型號而異)。
開關(guān)損耗實現(xiàn)最小化,典型的導通損耗和關(guān)斷損耗分別為14mJ和11mJ。
優(yōu)化設(shè)計與可靠性:
對漂移層雜質(zhì)濃度和厚度進行優(yōu)化,以增強模塊的導通電阻(RDS(ON))與絕緣擊穿電壓之間的關(guān)聯(lián)。
在p型硅(p-base)和n基區(qū)(n-drift)之間嵌入具有箝位PN結(jié)(PN junction)的肖特基二極管(SBD),保障模塊在反向傳導條件下的可靠性。
三、應(yīng)用與優(yōu)勢
應(yīng)用領(lǐng)域:
該新款碳化硅MOSFET模塊適用于各種工業(yè)設(shè)備,如軌道車輛用逆變器和轉(zhuǎn)換器、光伏逆變器、不間斷電源(UPS)、電動汽車充電站等。
優(yōu)勢:
顯著提升設(shè)備效率:通過降低導通電阻和開關(guān)損耗,實現(xiàn)更高的工作頻率和更低的功率損耗。
助力設(shè)備小型化:由于開關(guān)損耗低,可以簡化逆變器設(shè)計并提高功率密度,從而減小模塊體積及重量。
增強對宇宙射線的抗擾性:優(yōu)化漂移層雜質(zhì)濃度和厚度,提高模塊在光伏系統(tǒng)等應(yīng)用中的可靠性。
四、總結(jié)
東芝推出的新款碳化硅MOSFET模塊在提升工業(yè)設(shè)備效率和小型化方面表現(xiàn)出色。其低導通電阻、低開關(guān)損耗和高擊穿電壓等特點,使其成為各種工業(yè)應(yīng)用的理想選擇。未來,隨著碳化硅技術(shù)的不斷發(fā)展,東芝將繼續(xù)致力于推出更多高性能的功率器件,為工業(yè)設(shè)備的升級和轉(zhuǎn)型提供有力支持。
責任編輯:David
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