目前，使用單片機對低速開關的開關狀態(tài)進行檢測，常見有下面四種(1)如圖I所示，使用CPU的I/O 口 PO，對接地的低速開關進行檢測，只能檢測出開關的接地和懸空兩種狀態(tài)，不能檢測出接電源狀態(tài)。⑵如圖2所示，使用CPU的I/O 口，對接電源VCC的低速開關進行檢測，只能檢測出低速開關的接電源和懸空兩種狀態(tài)，不能檢測接地狀態(tài)。(3)如圖3所示，使用CPU的I/O 口，低速開關的動觸點在電源VCC和接地之間切換，能夠檢測出 低速開關的接電源和接地兩種狀態(tài)，但不能檢測出懸空狀態(tài)。(4)如圖4所示，使用CPU的模數(shù)轉(zhuǎn)換口 AD0，低速開關的動觸點在電源VCC和接地之間切換，可檢測出低速開關的接電源、接地和懸空三種狀態(tài)，但CPU的A/D 口資源有限。所述低速開關，是指開關頻率為IOOHz及以下的開關。