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自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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ATE是Automatic Test Equipment的縮寫(xiě)，根據(jù)客戶(hù)的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開(kāi)發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)各類(lèi)自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。

尋找自動(dòng)測(cè)試設(shè)備中PhotoMOS開(kāi)關(guān)的替代方案
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在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE, Automatic Test Equipment）中，PhotoMOS開(kāi)關(guān)（光隔離MOS開(kāi)關(guān)）常用于實(shí)現(xiàn)電氣隔離和開(kāi)關(guān)功能，尤其在高壓、電流較大、并且需要高頻控制的環(huán)境中。PhotoMOS開(kāi)關(guān)通常由光電二極管和MOSFET集成而成，具有較高的開(kāi)關(guān)速度和耐壓能力，但它的使用也受到一些局限，比如較低的開(kāi)關(guān)頻率、熱穩(wěn)定......
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　　作者：Jens Wallmann　　集成電路(IC)的需求比以往任何時(shí)候都更大，因?yàn)樗鼈兛梢越档陀布_(kāi)發(fā)成本，促進(jìn)電子設(shè)備的小型化，并提供廣泛的功能。為了確保大批量生產(chǎn)的質(zhì)量，半導(dǎo)體制造商需要可靠且緊湊的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 (ATE)，該設(shè)備能夠以低信號(hào)電平和高信號(hào)電平以及最小損耗快速切換高頻交流和直流電流。　　基于光伏 MOSFET ......
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