在模擬技術(shù)中，靜電放電（ESD）穩(wěn)健設(shè)計面臨著多方面的挑戰(zhàn)。以下是對這些挑戰(zhàn)的深入解析：一、技術(shù)差異與復(fù)雜性模塊化構(gòu)建的挑戰(zhàn)：模擬技術(shù)通常是模塊化構(gòu)建的，允許IC設(shè)計人員僅選擇一部分可用的工藝掩模，以精確定制設(shè)計需求。這種靈活性在ESD設(shè)計中帶來了挑戰(zhàn)，因為ESD保護的實際行為在很大程度上取決于所選的掩模組。ESD設(shè)計人員必須支持具有不同......