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射頻測(cè)試插座
射頻測(cè)試插座
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本發(fā)明屬于射頻測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種射頻測(cè)試插座及測(cè)試方法.射頻測(cè)試插座包括:絕緣殼體;射頻端子,設(shè)于絕緣殼體;第一信號(hào)傳導(dǎo)件,設(shè)于絕緣殼體內(nèi),與射頻端子連接;第二信號(hào)傳導(dǎo)件,設(shè)于絕緣殼體內(nèi),與射頻端子連接;射頻測(cè)試插座還包括:絕緣開關(guān),活動(dòng)連接于絕緣殼體;當(dāng)絕緣開關(guān)活動(dòng)至第一位置,所述絕緣開關(guān)驅(qū)動(dòng)第一信號(hào)傳導(dǎo)件以斷開第一信號(hào)傳導(dǎo)件與射頻端子的連接;當(dāng)絕緣開關(guān)活動(dòng)至第二位置,所述絕緣開關(guān)驅(qū)動(dòng)第二信號(hào)傳導(dǎo)件以斷開第二信號(hào)傳導(dǎo)件與射頻端子的連接.本發(fā)明的射頻測(cè)試插座,通過(guò)絕緣開關(guān)選擇所要導(dǎo)通的線路方向,實(shí)現(xiàn)射頻線路的雙向測(cè)試;兼容常用的Ipex連接器,無(wú)需特制的連接器和線纜,方便應(yīng)用.

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史密斯英特康在應(yīng)對(duì)5G時(shí)代下高頻芯片測(cè)試挑戰(zhàn)方面展現(xiàn)了強(qiáng)大的技術(shù)實(shí)力和市場(chǎng)適應(yīng)性。以下是對(duì)其應(yīng)對(duì)策略和能力的詳細(xì)分析：一、技術(shù)實(shí)力高頻測(cè)試插座產(chǎn)品：Joule 20高頻測(cè)試插座：史密斯英特康推出的Joule 20高頻測(cè)試插座，專為苛刻的模擬、RF、通信、消費(fèi)電子和汽車應(yīng)用的芯片測(cè)試提供一流的電氣和機(jī)械性能。其獨(dú)特的刮擦式接觸技術(shù)能夠提供重......
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2021-08-09
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