本發(fā)明涉及一種通過半導體分立器件特性曲線跟蹤儀器.半導體分立器件特性曲線跟蹤裝置,由上位機,測試主機,擴展臺,治具四部分組成,所述測試主機里包含下位機,機械手/探針臺驅動模塊,總線轉換模塊,數(shù)據(jù)總線模塊,AD/DA轉換模塊,功率放大器,繼電器陣列,所述的下位機里裝有自檢,自校準程序,所述的擴展臺擴展所述功率放大器,采用16位并行AD/DA轉換模塊設計,測試速度快,精度高;采用下位機控制,實現(xiàn)脫機運行;采用多級開爾文技術,系統(tǒng)穩(wěn)定性高,測試結果準確;完整的自檢/自校準能力;采用上位機顯示,直觀,好操作;可以連接機械手或探針臺,效率高;數(shù)據(jù)存儲在PC機里,讀寫方便.