本發(fā)明公開(kāi)了一種OLED面板顯示缺陷檢測(cè)設(shè)備,包括工作臺(tái),暗箱罩,載物臺(tái),光源組件,攝像組件和圖像分析裝置,所述暗箱罩罩設(shè)在所述工作臺(tái)的上方,并圍合形成一個(gè)不透光的腔室,且所述暗箱罩上設(shè)有可打開(kāi)或關(guān)閉的門(mén),所述載物臺(tái),光源組件和攝像組件均置于所述腔室內(nèi),所述圖像分析裝置設(shè)置在所述腔室內(nèi)或腔室外,且所述攝像組件與所述圖像分析裝置電連接,所述載物臺(tái)用以水平放置待檢測(cè)的OLED面板,所述光源組件用以照射待檢測(cè)的OLED面板上端面,所述攝像組件用以拍攝待檢測(cè)的OLED面板上端面的圖像信息,所述圖像分析裝置用以將所述攝像組件拍攝的圖像信息輸送至圖像分析裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)分析.其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,提高檢測(cè)效率,降低人工勞動(dòng)強(qiáng)度和人工誤檢率.